技术编号：6109416
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及对于电路基板的同轴电缆的连接结构，并涉及很好地适用于试验半导体集成电路元件等各种电子部件(下面简称为IC)用的电子部件试验装置等的对于电路基板的同轴电缆的连接结构。背景技术 在被称为处理器的电子部件试验装置中，将存储在托盘中的多个IC搬运到试验装置内，将各IC压紧在连接于试验头的插座端子上，在试验装置主体(测试器)内进行试验。当试验结束后，从试验步骤中搬出各IC，通过装载替换对应于试验结果的托盘来区分优品和次品的种类。这里，在试验头的插座板505...
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