技术编号：6109463
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及集成电路；本发明尤其涉及对集成电路内的软差错的检测。背景现今需要昂贵的辐射检测器来检测环境辐射。这些辐射检测器使用盖革-弥勒(Geiger-Mueller)管来构造。这些管子易碎，也很容易坏。此外，这些辐射检测器相对较大且消耗大量的功率。所以这些检测器不便携带。在集成电路(IC)领域，晶体管具有亚微米范围的大小。这些小型晶体管对宇宙(中子)和α粒子轰击更为敏感。因此，粒子击中其上制造有晶体管的硅就会完全改变晶体管的状态。例如，持有0值的锁存器可能...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。