技术编号:6113400
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及用于半导体元件或显示器面板的测量技术,更具体而言,涉及当诸如探测器之类用于操纵测试物体的装置连接到测试器并被测量时的噪声抑制技术。背景技术 在各种显示器面板,即以液晶显示器(LCD)和有机或无机场致发光(EL)显示器为主的平板显示器的开发和制造期间,面板探测器连接到诸如用于平板显示器(FPD)的阵列测试器之类的面板测试器并进行测量。具体地,取决于显示器类型,由于诸如玻璃之类的基底是一侧上的尺寸超过1米的较大物体,所以面板探测器也必须具有至少是一侧...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。