技术编号:6118995
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种集成电路的测试座,特别涉及一种用于测试球栅阵列形集成电路的测试座。背景技术传统的对球栅阵列形集成电路进行测试是通过人工操作来实现,即操作者通过直接使用探针对球栅阵列形集成电路进行测试,探针容易折断,从而影响探针的使用寿命,另一面,由于通过人工操作来实现对球栅阵列形集成电路进行测试,测试精度低,不能有效满足对测试精度要求高的球栅阵列形集成电路进行测试的需要。实用新型内容本实用新型的目的在于克服现有技术中的上述缺陷,提供一种结构简单、体积小、...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。