专利名称：测试球栅阵列形集成电路的测试座的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种集成电路的测试座，特别涉及一种用于测试球栅阵列形集成电路的测试座。
背景技术：
传统的对球栅阵列形集成电路进行测试是通过人工操作来实现，即操作者通过直接使用探针对球栅阵列形集成电路进行测试，探针容易折断，从而影响探针的使用寿命，另一面，由于通过人工操作来实现对球栅阵列形集成电路进行测试，测试精度低，不能有效满足对测试精度要求高的球栅阵列形集成电路进行测试的需要。
实用新型内容本实用新型的目的在于克服现有技术中的上述缺陷，提供一种结构简单、体积小、使用方便、测试精度高的测试球栅阵列形集成电路的测试座。
为实现上述目的，本实用新型提供的技术方案如下构造一种测试球栅阵列形集成电路的测试座，包括压座、针盘、转接针盘，所述压座、针盘、转接针盘通过定位销和连接销连接为一体。
所述压座包括旋转螺丝、导位螺丝、弹簧、压块连接座、螺母、活动压块、固定螺丝，压块连接座的面板上开设有与旋转螺丝相对应的旋转螺丝孔，其左、右侧壁上分别开设有与连接销相对应的数个销孔，压块连接座的面板的还开设有数个与导位螺丝相对应的导位螺丝孔，所述的活动压块由固定螺丝固定在导位螺丝上，旋转螺丝设置在旋转螺丝孔中，在外力的作用下，旋转螺丝可以通过旋转螺丝孔以及螺母进行顺时针或逆时针旋转，从而使活动压块可以向下或向上运动。
所述针盘包括定位板、护针板、上针板、卡位钢板、探针，卡位钢板的两侧壁上开设有与定位销相对应的卡位孔，定位板、护针板、上针板、卡位钢板上开设有与连接销相对应的销孔，连接销插入定位板、护针板、上针板、卡位钢板的销孔中，使定位板、护针板、上针板、卡位钢板连接为一体，护针板、上针板上开设有多个用于插入探针的针孔，探针依次穿过护针板、上针板的面板上的针孔。
所述转接盘包括下针板、导位板、转接针板、设置在转接针板上的转接针，下针板上开设有与连接销相对应的销孔，连接销钉插入下针板的销孔中，使定下针板与针盘固定连接，导位板上开设有多个用于插入转接针的针孔，转接针依次插入导位板、下针板与针盘上的探针相连接，从而使转接针板、导位板与下针板连接为一体。
本实用新型所述测试球栅阵列形集成电路的测试座的有益效果是，所述测试球栅阵列形集成电路的测试座主要由压块、针盘以及转接针盘构成，在针盘上设置了护针板，保护探针不易被折断，并可延长探针的使用寿命。具有结构简单、体积小、测试精度高、且使用方便的优点。
以下结合附图和实施例对本实用新型所述测试球栅阵列形集成电路的测试座作进一步说明
图1是本实用新型测试球栅阵列形集成电路的测试座的爆炸结构图；图2是本实用新型测试球栅阵列形集成电路的测试座的压座的爆炸结构图；
图3是本实用新型测试球栅阵列形集成电路的测试座的针盘的爆炸结构图；图4是本实用新型测试球栅阵列形集成电路的测试座的转接针盘的爆炸结构图。
具体实施方式
以下是本实用新型所述测试球栅阵列形集成电路的测试座的最佳实施例，并不因此限定本实用新型的保护范围。
参照图1、图2、图3、图4，构造一种测试球栅阵列形集成电路的测试座，包括压座A、针盘B、转接针盘C，所述压座A、针盘B、转接针盘C通过定位销a和连接销b连接为一体。
所述压座A包括旋转螺丝1、导位螺丝2、弹簧3、压块连接座4、螺母5、活动压块6、固定螺丝17，压块连接座4的面板上开设有与旋转螺丝1相对应的旋转螺丝孔1a，其左、右侧壁上分别开设有与连接销a相对应的数个销孔a1，压块连接座4的面板的还开设有数个与导位螺丝2相对应的导位螺丝孔2a，所述的活动压块6由固定螺丝17固定在导位螺丝2上，旋转螺丝1设置在旋转螺丝孔1a中，在外力的作用下，旋转螺丝可以通过旋转螺丝孔1a以及螺母5进行顺时针或逆时针旋转，从而使活动压块6可以向下或向上运动。
所述针盘B包括定位板7、护针板8、上针板9、卡位钢板10、探针14，卡位钢板10的两侧壁上开设有与定位销a相对应的卡位孔10a，定位板7、护针板8、上针板9、卡位钢板10上开设有与连接销b相对应的销孔b1，连接销b插入定位板7、护针板8、上针板9、卡位钢板10的销孔b1中，使定位板7、护针板8、上针板9、卡位钢板10连接为一体，护针板8、上针板9上开设有多个用于插入探针14的针孔15，探针14依次穿过护针板8、上针板9的面板上的针孔15。
所述转接盘C包括下针板11、导位板12、转接针板13、设置在转接针板13上的转接针18，下针板11上开设有与连接销b相对应的销孔b1，连接销钉b插入下针板11的销孔b1中，使定下针板11与针盘B固定连接，导位板12上开设有多个用于插入转接针18的针孔15，转接针18依次插入导位板12、下针板11与针盘B上的探针14相连接，从而使转接针板13、导位板12与下针板连接为一体。
权利要求1.一种测试球栅阵列形集成电路的测试座，其特征在于，包括压座(A)、针盘(B)、转接针盘(C)，所述压座(A)、针盘(B)、转接针盘(C)通过定位销(a)和连接销(b)连接为一体。
2.根据权利要求1所述测试球栅阵列形集成电路的测试座，其特征在于，所述压座(A)包括旋转螺丝(1)、导位螺丝(2)、弹簧(3)、压块连接座(4)、螺母(5)、活动压块(6)、固定螺丝(17)，压块连接座(4)的面板上开设有与旋转螺丝(1)相对应的旋转螺丝孔(1a)，其左、右侧壁上分别开设有与连接销(a)相对应的数个销孔(a1)，压块连接座(4)的面板的还开设有数个与导位螺丝(2)相对应的导位螺丝孔(2a)，所述的活动压块(6)由固定螺丝(17)固定在导位螺丝(2)上，旋转螺丝(1)设置在旋转螺丝孔(1a)中，在外力的作用下，旋转螺丝可以通过旋转螺丝孔(1a)以及螺母(5)进行顺时针或逆时针旋转，从而使活动压块(6)可以向下或向上运动。
3.根据权利要求1所述的测试球栅阵列形集成电路的测试座，其特征在于，所述针盘(B)包括定位板(7)、护针板(8)、上针板(9)、卡位钢板(10)、探针(14)，卡位钢板(10)的两侧壁上开设有与定位销(a)相对应的卡位孔(10a)，定位板(7)、护针板(8)、上针板(9)、卡位钢板(10)上开设有与连接销(b)相对应的销孔(b1)，连接销(b)插入定位板(7)、护针板(8)、上针板(9)、卡位钢板(10)的销孔(b1)中，使定位板(7)、护针板(8)、上针板(9)、卡位钢板(10)连接为一体，护针板(8)、上针板(9)上开设有多个用于插入探针(14)的针孔(15)，探针(14)依次穿过护针板(8)、上针板(9)的面板上的针孔(15)。
4.根据权利要求1所述的测试球栅阵列形集成电路的测试座，其特征在于，所述转接盘(C)包括下针板(11)、导位板(12)、转接针板(13)、设置在转接针板(13)上的转接针(18)，下针板(11)上开设有与连接销(b)相对应的销孔(b1)，连接销钉(b)插入下针板(11)的销孔(b1)中，使定下针板(11)与针盘(B)固定连接，导位板(12)上开设有多个用于插入转接针(18)的针孔(15)，转接针(18)依次插入导位板(12)、下针板(11)与针盘(B)上的探针(14)相连接，从而使转接针板(13)、导位板(12)与下针板连接为一体。
专利摘要本实用新型公开了一种测试球栅阵列形集成电路的测试座，包括压座、针盘、转接针盘，所述压座、针盘、转接针盘通过定位销和连接销连接为一体。具有结构简单、体积小、测试精度高、且使用方便的优点。
文档编号G01R31/28GK2884204SQ20062005452
公开日2007年3月28日 申请日期2006年1月27日 优先权日2006年1月27日
发明者冯有才 申请人:冯有才