技术编号：6128259
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于半导体生产测试，涉及SOC(系统级芯片)，NVM (非挥发性存储器件)的测试,特别涉及一种半导体测试仪。 背景技术在半导体产品开发过程中均涉及到使用测试平台的选用问题。针对 S0C(系统级芯片)，NVM (非挥发性存储器件)的测试，目前的测试仪有泰 瑞达的J750系列，惠瑞捷(原安捷伦)的93000系列，爱德万的T6/T5 系列等等。这些测试仪针对测试速度方面，基本要靠改变测试仪内部CPU 的运行速度来实现测试速度的提升。在进行产品的速度测试时，...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。