技术编号:6128603
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。集成电路舦舰本发明涉及集成电路,更具体地说,涉及能够检验电路工作速度的集 成电路。背景技术最近几年中,存在许多使用普通的外部连接有高速随机访问存储器(RAM)的半导体集成电路的情况。高速RAM是其中数据输入输出速率 高于普通半导体测试器的速率的RAM,或者是其工作速度高到从半导体 集成电路输出并且与时钟同步的数据由于工艺变化而不能从半导体测试器 输入的RAM。存在各种已知的用于测试这样的高速RAM的方法(例如见日本专利 早期公布No. 2003-4809)...
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