技术编号:6132646
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种测量计算H3-Sn-Al金属层状复合材料界面电阻的方法,结合四点共线探针法测量块体材料电阻及扫描电子显微镜微尺度标定技术,通过间接测量计算法获得微米数量级宽度Sn界面的电阻率,属于金属层状块体材料界面电阻率测算。背景技术目前,对于电阻非常小的块体材料电阻的精确测量,精度较高的有诸如KEITHLEY 等品牌的低压低阻测量仪器,其采用四点共线探针法(也称为四端接线法)的原理测量块体电阻,最小测量值甚至可以达到几个纳欧(η Ω )的级别。但是,对于...
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