技术编号:6133487
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种用于测量在诸如阴极射线管(CRT)的面板之类的板的内表面上的金属膜厚度的装置,更具体来说,它涉及当板运动时来测量在板的内表面上形成的沉积膜的厚度的装置。在典型面板的内表面上,形成有预定图案的荧光膜,而金属膜形成在荧光膜的表面上。金属膜将通过电子束碰撞激发而从荧光膜上产生的光反射到面板的前表面上,以便改善亮度,并且保护荧光膜不受电子束的碰撞。金属膜由具有良好的反射率的铝制成。随着金属膜厚度的增加,其典型的光反射率将提高,但是电子束透射过金属膜的...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。