技术编号:6138904
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及用于把半导体集成电路器件(以下,简称为IC)进行试验的IC试验装置,特别是涉及托盘传送臂以及使用了托盘传送臂的托盘的换载装置、IC试验装置以及托盘的处理方法。在被称为信息处理机(handler)的IC试验装置中,把被收容到托盘中的多片IC搬运到试验装置内,使得IC电接触试验头,在IC试验装置本体中进行试验。而且,如果结束试验则从试验头搬出各IC,通过换载到对应于试验结果的托盘中,进行合格品和不合格品种类的分类。在以往的IC试验装置,由于用于收容试...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。