技术编号：6142401
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及的是一种标定试样的制备方法，具体地说，是一种。用于材料分析测试。背景技术 目前虽然有多种应力方法，但X射线应力测量方法最为典型。由于该方法理论基础比较严谨，实验技术日渐完善，测量结果十分可靠，并且是又一种无损测量方法，因而在国内外都得到普遍的应用。在进行X射线应力测量之前，首先必须检测已知应力的标定试样，以校验仪器系统是否正常。因此，选择合适的标定试样对整个测量工作至关重要。现行的，是加工一种片状材料，通过弯曲或单向加载，来获得标定试样。这类标定...
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