技术编号：6148163
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种原子吸收分析装置，尤其涉及原子吸收分析装置中的背景系统较 正。背景技术本领域人士众所周知，交变磁场塞曼背景校正能获得比直流磁场塞曼背景校正更高的分析灵敏度，其原因是采用交变磁场在磁场关闭时测量的总吸收信号中，吸收线没有 发生分裂而在直流磁场中，除正常塞曼效应的元素外，作为测量总吸收信号的P平行分量 的吸收线也发生了分裂。因此测定灵敏度下降。但是交变磁场是基于磁场通和断的调制进行的，因此它不能实现同时背景校正， 对于一些低温元素测量经常遇到的快...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。