技术编号:6151226
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种低维納米材料显微结构与电学性能的测试装置和方法, 更具体的是一种通电状态下原位实时动态的低维纳米材料显微结构-电学输 运性能相关性的测量装置与方法。背景技术透射电子显微镜在纳米科学和是最为有力的研究工具之一。透 射电子显微镜的样品杆是用来支撑被检测样品的。低维纳米材料作为器件的 基本结构单元,承载着信息传输,存储等重要功能。在半导体及信息工业中应用到的低维纳米材料,在外场的作用下,研究其显微结构的变化和尺寸效 应对器件单元内低维纳米材料电荷输...
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