技术编号:6157621
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种半导体集成电路测试方法,特别是涉及一种动态电源瞬时功耗的 测试方法。背景技术在现有半导体测试中,电源瞬时功耗的测试是用测试仪对所测电源进行加电压测 电流方法实现。测试时所述测试仪是通过一探针卡和所要测量的电源相连,测试过程中不 断进行采样,其采样精度为为IOOuS(IOKHZ),这对于测量波动较大、频率较高的电流精确性 会很差,无法捕捉到短时间内的电流变化过程。电源在启动过程的前IOOuS会有很大的电 流,如果用现有测试仪测试,无法发现启动时...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。