专利名称：动态电源瞬时功耗的测试方法
技术领域：
本发明涉及一种半导体集成电路测试方法，特别是涉及一种动态电源瞬时功耗的 测试方法。
背景技术：
在现有半导体测试中，电源瞬时功耗的测试是用测试仪对所测电源进行加电压测 电流方法实现。测试时所述测试仪是通过一探针卡和所要测量的电源相连，测试过程中不 断进行采样，其采样精度为为IOOuS(IOKHZ)，这对于测量波动较大、频率较高的电流精确性 会很差，无法捕捉到短时间内的电流变化过程。电源在启动过程的前IOOuS会有很大的电 流，如果用现有测试仪测试，无法发现启动时电流的异常波动，因此需要更高精度的测试方 法来弥补测试仪测试精度的不足。示波器具有较高的采样频率能达到动态电源的瞬时电流 变化频率的要求，但是示波器只能对电压进行采样，不能对电流进行采样。因此现有动态电 源瞬时功耗的测试方法无法得到比较理想、连续的电流变化过程，从而也就使功耗测试结 果精确性不是很高。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种动态电源瞬时功耗的测试方法，能够测试 出瞬时电流，能准确模拟瞬时功耗整个动态变化过程。本发明提供的动态电源瞬时功耗的测试方法，测试时所述动态电源通过一探针卡 连接到一测试仪上，包括如下步骤步骤一、在探针卡电源通道中串联一个电阻，该电阻的范围为IK欧姆 4K欧姆；步骤二、测试所述电阻两端的瞬时电压，测试该瞬时电压是通过示波器的高频采 样，该高频采样的频率范围为50KHz 1MHz，抓取所述瞬时电压波形；步骤三、把所述瞬时电压转换成瞬时电流。本发明巧妙的利用了探针卡，通过在探针卡上串联一个电阻把测试瞬时电流转化 成瞬时电压的测试，再利用具有高频电压采样能力的示波器进行采样，抓取电压波形，再换 算成电流，这使本发明的测试瞬时电流的频率可以达到很高的值，能够模拟出瞬时功耗整 个动态变化过程。
下面结合附图和具体实施方式
对本发明作进一步详细的说明图1是本发明动态电源瞬时功耗的测试方法的流程图；图2是本发明实施例的动态电源瞬时功耗的测试方法的电路连接示意图。
具体实施例方式如图1所示，为本发明动态电源瞬时功耗的测试方法的流程图。测试时所述动态电源通过一探针卡连接到一测试仪上，包括如下步骤步骤一、如图2所示，在探针卡电源通道中串联一个电阻，本实施例中电阻为I欧 姆；步骤二、如图2所示，接通电源后，所述电阻中会有电流Idd流过，这一电流是从所 述动态电源中流出，通过所述探针卡进入测试仪；电流Idd在所述电阻两端产生电压，电压 差为如图2所示的Vdd减去Vdd_d_，所述Vdd和Vdd_drap接入一示波器，利用该示波器的高频采 样抓取所述电阻产生的电压波形，由于示波器具有高频采用能力，所述电阻所产生的瞬时 电压能够准确测试出来；步骤三、把用示波器所测试的所述瞬时电压转换成瞬时电流，转换公式为Idd= (Vdd-Vdd drap)/I欧姆。根据所测得的瞬时电流就能够模拟出瞬时功耗整个 动态变化过程。以上通过具体实施例对本发明进行了详细的说明，但这些并非构成对本发明的限 制。在不脱离本发明原理的情况下，本领域的技术人员还可做出许多变形和改进，这些也应 视为本发明的保护范围。
权利要求
1.一种动态电源瞬时功耗的测试方法，测试时所述动态电源通过一探针卡连接到一测 试仪上，其特征在于，包括如下步骤步骤一、在探针卡电源通道中串联一个电阻；步骤二、测试所述电阻两端的瞬时电压，为通过示波器的高频采样，抓取所述瞬时电压 波形；步骤三、把所述瞬时电压转换成瞬时电流。
2.如权利要求1所述的动态电源瞬时功耗的测试方法，其特征在于所述电阻的大小 为IK欧姆 4K欧姆。
3.如权利要求1所述的动态电源瞬时功耗的测试方法，其特征在于所述高频采样的 频率为50KHz IMHz。
全文摘要
本发明公开了一种动态电源瞬时功耗的测试方法，测试时所述动态电源通过一探针卡连接到一测试仪上，包括步骤在探针卡和动态电源通道中串联一个电阻；测试所述电阻两端的瞬时电压，为通过示波器的高频采样，抓取所述瞬时电压波形；把所述瞬时电压转换成瞬时电流。本发明能测试出具有较高频率的瞬时电流，从而能模拟瞬时功耗整个动态变化过程。
文档编号G01R31/40GK102096049SQ200910201948
公开日2011年6月15日 申请日期2009年12月15日 优先权日2009年12月15日
发明者孙黎瑾, 桑浚之, 武建宏, 辛吉升 申请人:上海华虹Nec电子有限公司