技术编号:6159586
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明适用于触摸屏测试领域,提供了一种,其包括如下步骤进行低温储存及珠击测试;进行高温储存及珠击测试;于进行低温储存及珠击测试之前、进行低温储存及珠击测试之后及进行高温储存及珠击测试之后均进行常温条件下的常规性能检查及测试,如果触摸屏在常温条件下的常规性能检查及测试不合格,则整个测试终止。通过上述测试方法,可以快速检测出触摸屏在低温环境和在经过长期使用(高温)后的硬度是否满足使用要求。专利说明[0001]本发明属于触摸屏测试领域,尤其涉及一种。背景技术[0...
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