触摸屏硬度的测试方法
【专利摘要】本发明适用于触摸屏测试领域，提供了一种触摸屏硬度的测试方法，其包括如下步骤：进行低温储存及珠击测试；进行高温储存及珠击测试；于进行低温储存及珠击测试之前、进行低温储存及珠击测试之后及进行高温储存及珠击测试之后均进行常温条件下的常规性能检查及测试，如果触摸屏在常温条件下的常规性能检查及测试不合格，则整个测试终止。通过上述测试方法，可以快速检测出触摸屏在低温环境和在经过长期使用（高温）后的硬度是否满足使用要求。
【专利说明】触摸屏硬度的测试方法
【技术领域】
[0001]本发明属于触摸屏测试领域，尤其涉及一种触摸屏硬度的测试方法。
【背景技术】
[0002]触摸屏(touch screen)又称为“触控屏”或“触控面板”，其是一种可接收触头等输入讯号的感应式液晶显示装置，当接触了屏幕上的图形按钮时，屏幕上的触觉反馈系统可根据预先编程的程式驱动各种连接装置，可用以取代机械式的按钮面板，并借由液晶显示画面制造出生动的影音效果。触摸屏作为一种最新的电脑输入设备，它是目前最简单、方便、自然的一种人机交互方式。
[0003]触控屏幕除赋予了使用者更加直接、便捷的操作体验之外，还使手机的外形变得更加时尚轻薄，增加了人机直接互动的亲切感，引发消费者的热烈追捧，同时也开启了触摸屏向主流操控界面迈进的征程。触摸屏应用范围已变得越来越广泛，从工业用途的工厂设备的控制/操作系统、公共信息查询的电子查询设施、商业用途的提款机到消费性电子的移动电话、PDA、数码相机等都可看到触控屏幕的身影，触摸屏市场未来的发展前景十分诱人。
[0004]随着触摸屏应用越来越广泛,触摸屏的可靠性和耐用性越来越引起大家重视,但是目前触摸屏可靠性测试方法仅限于一些常规的性能测试，例如，触摸屏端子间阻抗，线性度，绝缘阻抗等，无法考量到触摸屏在低温环境和/或在经过长期使用后，触摸屏的硬度是否能满足使用者的要求，触摸屏的硬度测试成为考量触摸屏质量和耐久性的一个重要指标，故寻找一种合理可靠的硬度测试方法尤其显得重要。
【发明内容】
[0005]本发明实施例的目的在于提供一种触摸屏硬度的测试方法，旨在解决现有技术中存在的无法考量到触摸屏在低温环境和在经过长期使用后的硬度是否能满足使用者要求的问题。
[0006]本发明实施例是这样实现的:一种触摸屏硬度的测试方法，其包括如下步骤:
[0007]检查触摸屏表面及功能是否正常，包括检查该触摸屏的端子间阻抗、线性度、绝缘阻抗是否符合要求，并记录；
[0008]提供一钢珠、一根玻璃导管及厚泡棉；
[0009]将测试样品放置于温度箱，设置温度箱温度为预设低温值，启动温度箱进行触摸屏低温储存测试；
[0010]于所述温度箱中触摸屏的下面垫上所述厚泡棉，然后将所述钢珠由所述玻璃导管内自由落体分别撞击所述触摸屏的三个不同位置，以测试测试样品低温环境下硬度性能；
[0011]将所述温度箱恢复常温，待测试样品冷却后检查触摸屏表面及功能是否正常，包括检查该触摸屏的端子间阻抗、线性度、绝缘阻抗是否符合要求，并记录；
[0012]将测试样品放置于温度箱，设置温度箱温度为预设高温值，启动温度箱进行触摸屏高温储存测试；
[0013]于所述温度箱中触摸屏的下面垫上所述厚泡棉，然后将所述钢珠由所述玻璃导管内自由落体分别撞击所述触摸屏的三个不同位置，以测试测试样品低温环境下硬度性能；
[0014]将所述温度箱恢复常温，待测试样品冷却后检查触摸屏表面及功能是否正常，包括检查该触摸屏的端子间阻抗、线性度、绝缘阻抗是否符合要求，并记录。
[0015]通过上述测试方法，可以快速检测出触摸屏在低温环境和在经过长期使用(高温)后的硬度是否满足使用要求。另外，通过上述硬度测试可发现触摸屏在材料、结构设计上的缺陷，并通过设计更改，避免存在硬度缺陷的触摸屏出现在市场上，减少后续因为产品经受环境和长期使用后可能会出现的触摸屏失效，降低售后维修成本，为客户提供可靠的产品，提高公司的知名度和信誉度，带来忠诚的客户。
【专利附图】
【附图说明】
[0016]图1是本发明第一实施例提供的触摸屏硬度的测试方法的步骤图。
[0017]图2是本发明第二实施例提供的触摸屏硬度的测试方法的步骤图。
【具体实施方式】
[0018]为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
[0019]请参阅图1，本发明第一实施例提供的触摸屏硬度的测试方法，具体步骤如下:
[0020]1、进行触摸屏的常温条件下的常规性能检查及测试，其包括检查触摸屏表面、功能是否正常及测试端子间阻抗、线性度、绝缘阻抗是否符合要求。在检查触摸屏表面过程中，主要检查触摸屏表面是否出现脏污、缺角及裂痕，触摸屏表面气泡直径是否小于0.2mm,其中，无脏污、无缺角及无裂痕，触摸屏表面气泡直径小于0.2mm为正常状态，反之则不正常；在检查触摸屏的功能过程中，检查是否出现触摸屏不灵、触摸定位不准确等现象。在测试触摸屏的端子间阻抗、线性度、绝缘阻抗是否符合要求时，当端子间阻抗>20ΜΩ (兆欧)，绝缘阻抗>20ΜΩ (兆欧)，线性度〈1.5%时，所述触摸屏符合要求，反之则不符合要求。上述检测及测试结果均记录下来，以备查验。此步骤的目的是对触摸屏基本性能和品质状况进行确认，确保后续测试的有效性。
[0021]2、准备测试工具，所述测试工具为钢珠、一根玻璃导管及厚泡棉。在本实施例中，所述钢珠的质量为25克?100克，所述玻璃导管的长度为IOOmm?400mm，所述玻璃导管的直径为6mm?15mm。所述厚泡棉的厚度为2mm?4mm。所述玻璃导管的管壁厚度为Imm?4mm。此步骤的目的是保证测试有效进行。
[0022]优选地，所述钢珠的质量为50克；所述玻璃导管长度为200mm、直径为IOmm及管壁厚度为2mm ;所述厚泡棉的厚度为3mm。所述玻璃导管便于测试过程中观看所述钢珠。
[0023]3、将测试样品(即为第I步骤中经过常规性能检查及测试合格后的触摸屏)放置于一温度箱，设置该温度箱温度为预设低温值，启动该温度箱进行触摸屏低温储存测试。具体地，将所述触摸屏放置于所述温度箱内，设置所述温度箱的温度条件为_23°C至_27°C中的任意一数值。启动所述温度箱进行触摸屏低温储存测试，测试时间为22-26小时。此步骤的目的是对触摸屏进行低温储存，模拟触摸屏在低温环境时的状态。优选地，所述温度箱的温度条件为_25°C ;进行低温储存测试的测试时间为24小时。
[0024]4、对经过低温储存后的触摸屏进行低温珠击测试，具体地，于所述温度箱中触摸屏的下面垫上所述厚泡棉，然后将所述钢珠由所述玻璃导管内自由落体分别撞击所述触摸屏的三个不同位置，以测试测试样品低温环境下硬度性能。在撞击的过程中，无论所述钢珠的冲击高度与所述钢珠的质量是多少，只要保证所述钢珠由一定高度自由落体产生在
0.05g-0.15g焦耳(其中，g为重力加速度)范围内的冲击动能，也就是说，所述钢珠由一定高度自由落体产生的冲击动能为重力加速度的0.05-0.15倍。优选地，所述钢珠由一定高度自由落体产生的冲击动能为重力加速度的0.1倍。在进行低温珠击测试时，以此冲击动能撞击所述触摸屏三次，并且每次撞击的位置不同。在本实施例中，二次撞击于所述触摸屏的靠近边框处，一次撞击于所述触摸屏的中间位置。在其他实施例中，三次撞击可以选择撞击所述触摸屏的其他位置。
[0025]在这里需要说明的是:所述触摸屏外表面为一层极薄的玻璃保护层或者经过硬化处理、光滑防刮的塑料层，次外层为ITO (氧化铟锡)层，如果冲击力过大，容易造成外表层及ITO层损伤；如果冲击力过小，无法分别出硬度差、抗冲击能力低的触摸屏，因此，本发明的触摸屏硬度的测试方法经过多次试验后，所述钢珠由自由落体产生的冲击动能为重力加速度的0.05-0.15倍范围内较为合适，所述钢珠由自由落体产生的冲击动能为重力加速度的0.1倍最为合适。
[0026]5、进行低温珠击测试后，将所述温度箱恢复常温，将低温珠击之后的触摸屏放置至少2个小时后，按步骤I对低温珠击之后的触摸屏进行常规性能检查及测试，如果发现异常则停止测试，并对触摸屏异常原因进行分析，通知设计部门针对测试异常进行整改。此步骤的目的是对测试样品测试后状况进行确认，测试样品存在缺陷要求设计部门进行整改，确保存在设计缺陷的产品在设计阶段就得到解决。
[0027]6、在步骤5中，未发现测试样品出现异常，然后将测试样品再次放置于所述温度箱内，设置该温度箱为预设高温值，启动温度箱进行触摸屏高温储存测试。具体地，将所述温度箱的温度调整为高温45°C至55°C范围内的任意一温度，测试时间设置为160-170小时。优选地，所述温度箱调整为50°C ;测试时间为168小时。
[0028]7、高温储存测试结束后，于所述温度箱中触摸屏的下面垫上所述厚泡棉，然后将所述钢珠由所述玻璃导管内自由落体分别撞击所述触摸屏的三个不同位置，以测试测试样品低温环境下硬度性能。在这里需要说明的是:进行高温珠击测试的方式与进行低温珠击测试的方式是相同的，所不同的是一个在高温环境下进行，一个是在低温环境下进行的。
[0029]8、进行高温珠击测试后，将所述温度箱恢复常温，待测试样品冷却后，按步骤I对高温珠击之后的触摸屏进行常规性能检查及测试，如果发现异常则停止测试，并对测试样品异常原因进行分析，通知设计部门针对测试异常进行整改。此步骤的目的是:对测试样品高温测试后状况进行确认，测试样品存在缺陷要求设计部门进行整改，确保存在设计缺陷的产品在设计阶段就得到解决。在本实施例中，经过高温珠击后的测试样品冷却至少2个小时。
[0030]所述触摸屏经过低温环境下和高温环境下的测试合格后，即说明所测试的触摸屏能够满足低温环境和长期使用的硬度要求，产品可靠。[0031]可以理解地，步骤2的准备测试工具可以在步骤I之前，也可以在步骤3和步骤4之间。
[0032]请参阅图2，本发明第二实施例提供的触摸屏硬度的测试方法，具体步骤如下:
[0033]a)进行触摸屏的常规性能检查及测试，测试的项目与目的与本发明第一实施例的触摸屏硬度的测试方法的步骤I相同；
[0034]b)准备测试工具，所述测试工具与本发明第一实施例的触摸屏硬度的测试方法的测试工具相同；
[0035]c)对触摸屏(即待侧试样品为步骤a)中经过常规性能检查及测试合格后的触摸屏)进行高温储存测试，所述高温储存测试的温度与时间与本发明第一实施例的触摸屏硬度的测试方法的步骤6的温度与时间相同；
[0036]d)高温储存测试结束后，在高温环境下进行高温珠击测试，所述高温珠击测试与本发明第一实施例的触摸屏硬度的测试方法的步骤4大致相同，所不同的是:步骤4为低温环境下的珠击测试，步骤d)为高温环境下的珠击测试；
[0037]e)进行高温珠击测试后，将所述温度箱恢复常温，将高温珠击后的测试样品冷却至少2个小时后，进行如步骤a)相同的常规性能检查及测试；如果发现异常则停止测试，并对测试样品异常原因进行分析，通知设计部门针对测试异常进行整改。此步骤的目的是:对测试样品高温测试后状况进行确认，测试样品存在缺陷要求设计部门进行整改，确保存在设计缺陷的产品在设计阶段就得到解决。
[0038]f)在步骤e)中，未发现测试样品出现异常，然后将测试样品再次放置于所述温度箱内进行低温储存测试，所述低温储存测试与本发明第一实施例的触摸屏硬度的测试方法的步骤3相同；
[0039]g)对经过低温储存后的触摸屏进行低温珠击测试，所述低温珠击测试与本发明第一实施例的触摸屏硬度的测试方法的步骤4相同；
[0040]h)进行低温珠击测试后，将所述温度箱恢复常温，将低温珠击之后的触摸屏放置至少2个小时后，按步骤a)对低温珠击之后的触摸屏进行常规性能检查及测试。如果发现异常则停止测试，并对触摸屏异常原因进行分析，通知设计部门针对测试异常进行整改。此步骤的目的是对测试样品测试后状况进行确认，测试样品存在缺陷要求设计部门进行整改，确保存在设计缺陷的产品在设计阶段就得到解决。
[0041]可以理解地，步骤b)的准备测试工具可以在步骤a)之前，也可以在步骤c)和步骤d)之间。
[0042]所述触摸屏经过高温环境下和低温环境下的测试合格后，即说明所测试的触摸屏能够满足低温环境和长期使用的硬度要求，产品可靠。
[0043]通过上述测试方法，可以快速检测出触摸屏的硬度是否满足使用要求，通过硬度测试发现触摸屏在材料、结构设计上的缺陷，并通过设计更改，避免存在硬度缺陷的触摸屏出现在市场上，减少后续因为产品经受环境和长期使用后可能会出现的触摸屏失效，降低售后维修成本，为客户提供可靠的产品，提高公司的知名度和信誉度，带来忠诚的客户。
[0044]上述测试方法中的高温旨在模拟触摸屏在长期使用时的温度状况。
[0045]以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
【权利要求】
1.一种触摸屏硬度的测试方法，其包括如下步骤:检查触摸屏表面及功能是否正常，包括检查该触摸屏的端子间阻抗、线性度、绝缘阻抗是否符合要求，并记录；提供一钢珠、一根玻璃导管及厚泡棉；将测试样品放置于温度箱，设置温度箱温度为预设低温值，启动温度箱进行触摸屏低温储存测试；于所述温度箱中触摸屏的下面垫上所述厚泡棉，然后将所述钢珠由所述玻璃导管内自由落体分别撞击所述触摸屏的三个不同位置，以测试测试样品低温环境下硬度性能；将所述温度箱恢复常温，待测试样品冷却后检查触摸屏表面及功能是否正常，包括检查该触摸屏的端子间阻抗、线性度、绝缘阻抗是否符合要求，并记录；将测试样品放置于温度箱，设置温度箱温度为预设高温值，启动温度箱进行触摸屏高温储存测试；于所述温度箱中触摸屏的下面垫上所述厚泡棉，然后将所述钢珠由所述玻璃导管内自由落体分别撞击所述触摸屏的三个不同位置，以测试测试样品低温环境下硬度性能；将所述温度箱恢复常温，待测试样品冷却后检查触摸屏表面及功能是否正常，包括检查该触摸屏的端子间阻抗、线性度、绝缘阻抗是否符合要求，并记录。
2.如权利要求1所述的触摸屏硬度的测试方法，其特征在于:所述预设低温值为-25°C，所述预设高温值为50°C。
3.如权利要求1所述的触摸屏硬度的测试方法，其特征在于:所述低温储存测试的低温储存时间为22-26小时。
4.如权利要求1-3任一项所述的触摸屏硬度的测试方法，其特征在于:所述低温储存测试的低温储存时间为24小时。
5.如权利要求1所述的触摸屏硬度的测试方法，其特征在于:所述高温储存测试的高温储存时间为160-170小时。
6.如权利要求1或2或5所述的触摸屏硬度的测试方法，其特征在于:所述高温储存测试的高温储存时间为168小时。
7.如权利要求1所述的触摸屏硬度的测试方法，其特征在于:所述厚泡棉的厚度为2mm?4mm,所述钢珠的质量为25克?100克,所述玻璃导管的长度为IOOmm?400mm及直径为6_?15mm,所述钢珠自由落体产生的冲击动能为重力加速度的0.05-0.15倍。
8.如权利要求7所述的触摸屏硬度的测试方法，其特征在于:所述钢珠的质量为50克，所述玻璃导管的长度为200mm，所述玻璃导管的直径为10mm，所述玻璃导管的管壁厚度为Imm?4mm,所述厚泡棉的厚度为3mm。
9.如权利要求7所述的触摸屏硬度的测试方法，其特征在于:所述钢珠自由落体产生的冲击动能为重力加速度的0.1倍。
10.如权利要求1-9任一项所述的触摸屏硬度的测试方法，其特征在于:所述触摸屏的端子间阻抗大于20M Ω、绝缘阻抗大于20M Ω及线性度小于1.5%为正常。
【文档编号】G01R31/00GK103454512SQ201210177459
【公开日】2013年12月18日 申请日期:2012年5月31日 优先权日:2012年5月31日
【发明者】周明杰, 王永清 申请人:海洋王（东莞）照明科技有限公司, 海洋王照明科技股份有限公司, 深圳市海洋王照明技术有限公司