技术编号:6160236
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了。该测试装置包括电阻,所述电阻连接在所述测试装置的输入端和输出端之间;以及二极管,所述二极管的正极用于与偏压源连接,所述二极管的负极连接至所述测试装置的所述输出端,其中,所述测试装置的所述输入端用于接收测试信号,且所述测试装置的所述输出端用于连接待测试的NMOS晶体管的栅极。本发明提供的NMOS晶体管的测试装置能够在PBTI测试过程中连续地、自动地对待测试的NMOS晶体管施加应力,进而可以有效地解决PBTI测试中的恢复效应问题。此外,本发明提供...
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