技术编号：6164373
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明是关于一种X射线荧光分析中熔片稀释比的测定方法及其应用。该测定方法为将被测试样品和熔剂混合后制备为熔片，对上述熔片进行X射线荧光分析，赋予上述熔片的稀释比一个初值R1；按照公式进行多次迭代，直到样品中各元素浓度之和处在预设范围值之内，然后计算得到样品的实际稀释比。本发明X射线荧光分析中熔片稀释比的测定方法其可以获得样品中实际的稀释比，克服了现有技术中烧失量对稀释比的影响，从而可以获得更加准确的分析结果。并使X射线荧光分析方法可以应用在水泥样品的检测中...
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