技术编号：6164375
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明是关于一种获得标准稀释比下X射线荧光强度的方法及其应用。该获得标准稀释比下X射线荧光强度的方法，包括步骤1，将被测试样品制备为玻璃熔片,该玻璃熔片的稀释比为R；步骤2，对上述制备的玻璃熔片进行X荧光强度测定，得到样品中某元素的X荧光强度值I；步骤3，根据公式计算得到标准稀释比R0下的X荧光强度I0。采用本方法可以将元素在不同稀释比下的荧光强度转化为标准稀释比下的荧光强度，从而不再受限于定量称样，可以大大提高分析效率并且降低由于样品在称量过程中吸湿等原...
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