一种获得标准稀释比下x射线荧光强度的方法
【专利摘要】本发明是关于一种获得标准稀释比下X射线荧光强度的方法及其应用。该获得标准稀释比下X射线荧光强度的方法，包括：步骤1，将被测试样品制备为玻璃熔片,该玻璃熔片的稀释比为R；步骤2，对上述制备的玻璃熔片进行X荧光强度测定，得到样品中某元素的X荧光强度值I；步骤3，根据公式计算得到标准稀释比R0下的X荧光强度I0。采用本方法可以将元素在不同稀释比下的荧光强度转化为标准稀释比下的荧光强度，从而不再受限于定量称样，可以大大提高分析效率并且降低由于样品在称量过程中吸湿等原因造成的结果误差。
【专利说明】—种获得标准稀释比下X射线荧光强度的方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种X射线荧光分析方法，特别是涉及一种在X射线荧光分析中获得标准稀释比下X射线荧光强度的方法及其应用。
【背景技术】
[0002]X射线荧光分析方法是一种基于被测元素X射线荧光强度与浓度之间存在函数关系的定量分析方法。强度与浓度之间的函数关系通过采用标准样品建立标准曲线的方法确定。
[0003]现有的熔融法X射线荧光分析测量样品的X射线荧光强度前，首先要将样品制备成玻璃熔片，样品玻璃熔片中熔剂和样品的灼烷基质量比称为稀释比，记为Ro。对标准样品的X射线荧光强度测量时，也应首先将标准样品制备成玻璃熔片，制备标准样品玻璃熔片时熔剂和标准样品的灼烷基质量比称为标准稀释比，记为Rs。制备未知样品玻璃熔片时，需要对灼烧后的熔剂和样品准确称量，以获得与标准稀释比Rs相等的稀释比R。通过X射线荧光分析仪测得该稀释比R下元素的荧光强度，进而进行浓度的求算。但是，现有的熔片制备方法要求对样品与熔剂进行定量而准确称量，在称量过程中不仅费时费力，而且容易由于称量不准确引入实验误差，造成实际熔片的稀释比偏离标准稀释比，从而造成分析结果的准确度和精密度较差。
[0004]有鉴于上述现有的X射线荧光分析方法存在的缺陷，经过不断的研究和实验，终于创设出确具实用价值的本发明。
【发明内容】
[0005]本发明的主要目的在于，提供一种获得标准稀释比下X射线荧光强度的方法，所要解决的技术问题是使其可以将待测元素在不同稀释比下的荧光强度转化为标准稀释比下的荧光强度，从而不再受限于定量称样，提高分析效率，从而更加适于实用。
[0006]本发明的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本发明提出的一种获得标准稀释比下X射线荧光强度的方法，其包括:
[0007]步骤1，将被测试样品制备为玻璃熔片，该玻璃熔片的稀释比为R ;
[0008]步骤2，对上述制备的玻璃熔片进行X荧光强度测定，得到样品中某元素的X荧光强度值I;
[0009]步骤3，根据公式
【权利要求】
1.一种获得标准稀释比下X射线荧光强度的方法，其特征在于包括: 步骤1，将被测试样品制备为玻璃熔片，该玻璃熔片的稀释比为R ； 步骤2，对上述制备的玻璃熔片进行X荧光强度测定，得到样品中某元素的X荧光强度值I ; 步骤3，根据公式A=Zxi υ "，计算得到标准稀释比Rtl下的X荧光强度Itl，其中a i;f为熔剂影响系数。
2.根据权利要求1所述的获得标准稀释比下X射线荧光强度的方法，其特征在于:所述的熔剂影响系数ai f是通过以下步骤得到的， 步骤SI，用熔剂和被测试样品制备多个玻璃熔片，各玻璃熔片具有不同的稀释比R ；步骤S2，对上述各玻璃熔片进行X射线荧光强度测定，得到各个玻璃熔片中某元素i的X射线荧光强度I ; 步骤S3，设上述被测试样品中元素i的浓度为Ci，用元素i的浓度Ci对I和RI过原点做二元回归分析，得到两个斜率记为斜率Kl和斜率K2，则熔剂影响系数a i f=K2/Kl。
3.根据权利要求1或2所述的获得标准稀释比下X射线荧光强度的方法，其特征在于:步骤I中所述的稀释比R在3-10范围内。
4.根据权利要求1所述的获得标准稀释比下X射线荧光强度的方法，其特征在于，所述的被测试样品为水泥。
5.一种水泥样品的测量方法，其特征在于，其包括上述权利要求1-4任一项所述的获得标准稀释比下X射线荧光强度的方法。
6.权利要求1-4任一项所述的获得标准稀释比下X射线荧光强度的方法在测量水泥样品中的应用。
7.—种X射线荧光分析中熔剂影响系数的测定方法，其特征在于包括以下步骤: 步骤SI，用熔剂和被测试样品制备多个玻璃熔片，各玻璃熔片具有不同的稀释比R ； 步骤S2，对上述各玻璃熔片进行X射线荧光强度测定，得到各个玻璃熔片中某元素i的X射线荧光强度I ; 步骤S3，设上述被测试样品中元素i的浓度为Ci，用元素i的浓度Ci对I和RI过原点做二元回归分析，得到两个斜率记为斜率Kl和斜率K2，则熔剂影响系数通过公式a lf=K2/Kl计算得到。
【文档编号】G01N23/223GK103901066SQ201210574411
【公开日】2014年7月2日 申请日期:2012年12月26日 优先权日:2012年12月26日
【发明者】戴平, 马振珠, 刘玉兵, 王彦君, 赵鹰立, 闫冉, 韩蔚 申请人:中国建材检验认证集团股份有限公司