一种普通光敏电阻实现线性遮光检测结构的方法技术资料下载

技术编号:6167868

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本发明涉及线性遮光检测技术,尤其是。它将光敏电阻两头电阻片弯曲部分用不透光的绝缘体材料或涂料进行遮蔽,将光敏电阻与运动遮光板方位设一致,在运动遮光板左右位移时检测光敏电阻体不同位置的受光反应线性折光面积和位移,检测光敏电阻受光强度的不同以及阻值随光强度的变化。本发明,技术简单,成本低廉,可实现线性化检测,检测光敏电阻不同电平的状况。专利说明[0001]本发明涉及线性遮光检测技术,尤其是。技术背景[0002]目前,光敏电阻遮光检测通常应用为光敏电阻的受光面全...
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