一种普通光敏电阻实现线性遮光检测结构的方法
【专利摘要】本发明涉及线性遮光检测技术，尤其是一种普通光敏电阻实现线性遮光检测结构的方法。它将光敏电阻两头电阻片弯曲部分用不透光的绝缘体材料或涂料进行遮蔽，将光敏电阻与运动遮光板方位设一致，在运动遮光板左右位移时检测光敏电阻体不同位置的受光反应线性折光面积和位移，检测光敏电阻受光强度的不同以及阻值随光强度的变化。本发明一种普通光敏电阻实现线性遮光检测结构的方法，技术简单，成本低廉，可实现线性化检测，检测光敏电阻不同电平的状况。
【专利说明】一种普通光敏电阻实现线性遮光检测结构的方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及线性遮光检测技术，尤其是一种普通光敏电阻实现线性遮光检测结构的方法。
技术背景
[0002]目前，光敏电阻遮光检测通常应用为光敏电阻的受光面全部受光方式，仅仅检测出高低两种电平的状况，在遮光检测中，由于受光的结构形状，不能线性反应遮光面积与位移，而现有的检测系统结构复杂，技术难度大，器材价格昂贵。
【发明内容】
[0003]本发明的目的是为了解决上述技术问题，提供一种技术简单，成本低廉，可实现线性化检测，检测光敏电阻不同的电平状况的线性遮光检测结构的方法。
[0004]本发明所采用的技术方案是这样实现的:一种普通光敏电阻实现线性遮光检测结构的方法，是将光敏电阻两头电阻片的弯曲部分用不透光的绝缘体材料或涂料进行遮蔽，将光敏电阻与运动体遮光板方位设一致，在遮光板位移时检测光敏电阻体不同位置的受光反应线性折光面积和位移，检测光敏电阻受光强度不同，阻值随光强度的变化。
[0005]所述的光敏电阻两头电阻片的弯曲部分用不透光的绝缘体材料或涂料进行遮蔽，光敏电阻电阻片上遮蔽和不遮蔽位置处的光照强度不同。
[0006]所述的光敏电阻与运动遮光板的左右运动方向一致，检测运动遮光板运动到光敏电阻不同位置处时对应的遮光偏移量、对应的光照强度，检测出线性比例的变化量。所述的检测光敏电阻体不同位置受光反应线性折光面积和位移，在运动过程中线性化运动遮光，光敏电阻阻值随之变化，随光照输出不同种的电平状况。
[0007]所述的运动遮光板在位移时光敏电阻折光面积不同，运动遮光板和光敏电阻相对位移中数字量连续检测。
[0008]本发明的一种普通光敏电阻实现线性遮光检测结构的方法，技术简单，成本低廉，可实现线性化检测，检测光敏电阻不同电平的状况。
【专利附图】
【附图说明】
[0009]图1是本发明的普通光敏电阻的结构示意图
[0010]图2是本发明遮光线性运动检测形成图
[0011]图中:1.光敏电阻，2.电阻片，3.不透光绝缘体或涂料，4.遮光板。
【具体实施方式】
[0012]根据附图1、2，本发明实现线性遮光检测的结构包括光敏电阻1，安装在光敏电阻I上的电阻片2和电阻片2两头弯曲部分的不透光绝缘材料或涂料3，在线性遮光检测中运动遮光板4左右位移时，检测光敏电阻在不同位置的光照面积，发生的线性位移，检测阻值的变化。
[0013]在实现线性遮光检测时，将普通光敏电阻I上的电阻片2两头弯曲部分用不透光的绝缘材料或涂料3进行遮挡，在运动遮光板4做左右运动时，光照在电阻片2被遮挡部分时，测定电阻值无穷大，输出高电平，遮光板4在移动中光照在第一片电阻片2时，测定电阻值稍高，继续移动时，在光照在不同个电阻片2时，电阻值也在发生变化，光照面积大时，阻值也相应变小，输出低电平，运动遮光板4每次发生位移，受光面积就相对应变化，测定电阻值也相应的发生变化，电平状况也相应变化，实现遮光型式位移检测的线性化，能够测定对应遮光偏移量，能够测定有线性比例的阻值变化量。
【权利要求】
1.一种普通光敏电阻实现线性遮光检测结构的方法，其特征在于:将光敏电阻两头电阻片弯曲部分用不透光的绝缘体材料或涂料进行遮蔽，将光敏电阻与运动遮光板的方位设一致，在运动遮光板左右位移时，检测光敏电阻体不同位置的受光反应线性折光面积和位移，光敏电阻受光强度的不同以及光敏电阻阻值随光照强度的变化。
2.根据权利要求1所述的一种普通光敏电阻实现线性遮光检测结构的方法，其特征在于:所述的光敏电阻两头电阻片弯曲部分用不透光的绝缘体材料或涂料进行遮蔽，光敏电阻的电阻片上遮蔽和不遮蔽位置处的光照强度不同。
3.根据权利要求1所述的一种普通光敏电阻实现线性遮光检测结构的方法，其特征在于:所述的光敏电阻与运动遮光板的左右运动方向一致，检测运动遮光板运动到光敏电阻不同位置处时对应的遮光偏移量、对应光照强度，检测出线性比例的变化量。
4.根据权利要求1所述的一种普通光敏电阻实现线性遮光检测结构的方法，其特征在于:所述的检测光敏电阻体不同位置受光反应线性折光面积和位移，在运动过程中线性化运动遮光，光敏电阻阻值随之变化，随光照输出不同种的电平状况。
5.根据权利要求1所述的一种普通光敏电阻实现线性遮光检测结构的方法，其特征在于:所述的运动遮光板在位移时光敏电阻折光面积不同，运动遮光板和光敏电阻相对位移中数字量连续检测。
【文档编号】G01R31/00GK103913649SQ201310006634
【公开日】2014年7月9日 申请日期:2013年1月7日 优先权日:2013年1月7日
【发明者】岳志明 申请人:酒泉职业技术学院