技术编号:6168381
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明的目的是提供一种SIP芯片测试平台,至少包括一个电源控制模块,一个辅助测试基带,一个辅助测试射频,待测SIP芯片和一个连通控制模块,所述待测SIP芯片至少包括一个射频和一个基带,所述电源控制模块给所述辅助测试基带、辅助测试射频和待测SIP芯片供电,所述连通控制模块控制所述待测SIP芯片的射频、基带、所述辅助测试基带、所述辅助测试射频之间的连通。采用本发明的技术方案后,解决了系统级测试芯片的性能和排查引起芯片性能变差的原因测试问题,能绕过操作繁琐、成本...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。