技术编号:6168722
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了一种片上系统(SoC)芯片测试方法、装置和系统,其中,所述系统包括STC、总线和外设接口,其中,所述STC通过总线与SoC芯片的各子系统连接;所述STC通过外设接口接收片外测试终端配置的测试向量的起始和结束地址,根据所述起始和结束地址获取所述测试向量,执行所述测试向量得到对应子系统的测试结果。专利说明一种片上系统芯片测试方法、装置和系统 [0001]本发明涉及芯片测试技术,尤其涉及一种片上系统(System on Chip,SoC)芯片测...
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