一种片上系统芯片测试方法、装置和系统的制作方法
【专利摘要】本发明公开了一种片上系统（SoC）芯片测试方法、装置和系统，其中，所述系统包括：STC、总线和外设接口，其中，所述STC通过总线与SoC芯片的各子系统连接；所述STC通过外设接口接收片外测试终端配置的测试向量的起始和结束地址，根据所述起始和结束地址获取所述测试向量，执行所述测试向量得到对应子系统的测试结果。
【专利说明】一种片上系统芯片测试方法、装置和系统
【技术领域】
[0001]本发明涉及芯片测试技术，尤其涉及一种片上系统(System on Chip，SoC)芯片测试方法、装置和系统。
【背景技术】
[0002]目前，通常采用在SoC芯片的内嵌处理器上运行测试代码来进行SoC芯片测试。由于内嵌处理器需要能够处理几百种指令(Command)，因此结构十分复杂。由此要求在内嵌处理器上运行的测试代码复杂度高，导致编写测试代码的难度很高，测试代码编写稍有不当，就会导致测试结果不准确，而对测试代码的反复修正会导致测试周期的延长，降低测试效率。尤其是，随着集成电路生产工艺的提升，SoC芯片所集成的子系统的数量越来越多，需要编写的复杂测试代码的数量也越来越多，这就更降低了测试效率。
【发明内容】
[0003]有鉴于此，本发明的主要目的在于提供一种SoC芯片测试方法、装置和系统，能够根据简单的测试代码得到准确的测试结果，提高测试效率。
[0004]为达到上述目的，本发明的技术方案是这样实现的:
[0005]本发明提供了一种SoC芯片测试方法，所述方法包括:
[0006]在SoC芯片内部设置系统测试控制器(STC)，所述STC通过总线与SoC芯片的各子系统连接；
[0007]所述STC通过外设接口接收片外测试终端配置的测试向量的起始和结束地址，根据所述起始和结束地址获取所述测试向量，执行所述测试向量得到对应子系统的测试结果O
[0008]较佳地，所述根据所述起始和结束地址获取所述测试向量之前，所述方法还包括:
[0009]STC接收测试log地址；
[0010]相应的，所述执行所述测试向量得到对应子系统的测试结果之后，所述方法还包括:
[0011]STC根据所述测试log地址对所述测试结果进行存储。
[0012]较佳地，所述测试向量和所述测试结果存储在STC。
[0013]较佳地，所述测试向量由多个指令字段和数据字段组合串行构成。
[0014]本发明提供了一种STC，所述STC包括:
[0015]起始和结束地址接收单元，用于通过外设接口接收片外测试终端配置的测试向量的起始和结束地址；
[0016]测试向量获取单元，用于根据地址接收单元收到的起始和结束地址获取所述测试向量;
[0017]执行单元，用于执行测试向量获取单元获取的测试向量得到对应子系统的测试结果O
[0018]较佳地，所述STC还包括:
[0019]测试log地址接收单元,用于接收测试log地址；
[0020]存储单元，用于根据所述测试log地址接收单元收到的测试log地址对所述测试结果进行存储。
[0021 ] 较佳地，所述STC还包括:
[0022]存储单元，用于存储所述测试向量和所述测试结果。
[0023]本发明提供了一种SoC芯片测试系统，所述系统包括:STC、总线和外设接口，其中，
[0024]所述STC通过总线与SoC芯片的各子系统连接；
[0025]所述STC通过外设接口接收片外测试终端配置的测试向量的起始和结束地址，根据所述起始和结束地址获取所述测试向量，执行所述测试向量得到对应子系统的测试结果O
[0026]较佳地，所述STC，还用于通过外设接口接收片外测试终端配置的接收测试log地址，并根据所述测试log地址对所述测试结果进行存储。
[0027]较佳地，所述测试向量和所述测试结果存储在STC。
[0028]较佳地，SoC芯片的各子系统分别连接一个测试盒子，所述测试盒子与子系统之间分别通过总线接口和专用接口连接，所述测试盒子与总线之间通过总线接口连接，所述测试盒子分别与其他各子系统通过专用接口连接；
[0029]所述测试盒子用于将对应子系统于STC间通过总线传输的数据进行多路复用。
[0030]由上可知，本发明的技术方案包括:在SoC芯片内部设置系统测试控制器(STC)，所述STC通过总线与SoC芯片的各子系统连接；所述STC通过外设接口接收片外测试终端配置的测试向量的起始和结束地址，根据所述起始和结束地址获取所述测试向量，执行所述测试向量得到对应子系统的测试结果。由此，通过在SoC芯片内部设置结构简单的STC，可以采用简单的测试向量进行测试结果，从而提高测试结果的准确性，并提高测试效率。
【专利附图】
【附图说明】
[0031]图1为本发明SoC芯片测试系统的结构示意图；
[0032]图2为本发明测试盒子的连接示意图；
[0033]图3为本发明SoC芯片测试方法的实现流程图；
[0034]图4为本发明STC的结构示意图；
[0035]图5为本发明测试向量的结构示意图。
【具体实施方式】
[0036]本发明提供了一种SoC芯片测试系统，如图1所示，所述系统包括:系统测试控制器(System Test Controller, STC)、总线和外设接口，其中,
[0037]所述STC通过总线与SoC芯片的各子系统连接；
[0038]所述STC通过外设接口接收片外测试终端配置的测试向量的起始和结束地址，根据所述起始和结束地址获取所述测试向量，执行所述测试向量得到对应子系统的测试结果O
[0039]优选地，所述STC，还用于通过外设接口接收片外测试终端配置的接收测试log地址，并根据所述测试log地址对所述测试结果进行存储。
[0040]优选地，所述测试向量和所述测试结果存储在STC ;这样，可以提高测试向量和测试结果的读取速率，从而提高测试效率。在实际中，当STC存储空间较小时，也可以将测试向量和测试结果预先存储在SoC芯片的存储单元，在测试过程中，再将SoC芯片的存储单元存储的测试向量和测试结果转移到STC。
[0041]优选地，如图2所示，SoC芯片的各子系统分别连接一个测试盒子，所述测试盒子与子系统之间分别通过总线接口和专用接口连接，所述测试盒子与总线之间通过总线接口连接，所述测试盒子分别与其他各子系统通过专用接口连接；
[0042]所述测试盒子用于将对应子系统于STC间通过总线传输的数据进行多路复用；
[0043]这里，对于STC通过总线发来的数据，所述测试盒子通过时分复用将所述数据分为总线接口数据和专用接口数据，并将所述总线接口数据和专用接口数据分别通过总线接口和专用接口发给对应子系统；
[0044]对于对应子系统分别通过总线接口和专用接口发来的总线接口数据和专用接口数据，所述测试盒子通过时分复用将所述总线接口数据和专用接口数据转换为一路总线接口数据，并将所述总线接口数据通过总线发给STC ；
[0045]所述测试盒子将其他子系统通过专用接口发来的专用接口数据转换为总线接口数据，并将所述总线接口数据发给总线；
[0046]这样，可以减少其他子系统对被测子系统的干扰，即使其他子系统有问题也不会影响对被测子系统的测试。
[0047]对应图1所示的SoC芯片测试系统，本发明提供了一种SoC芯片测试方法，如图3所示，所述方法包括:
[0048]步骤301、在SoC芯片内部设置STC，所述STC通过总线与SoC芯片的各子系统连接;
[0049]步骤302、所述STC通过外设接口接收片外测试终端配置的测试向量的起始和结束地址，根据所述起始和结束地址获取所述测试向量，执行所述测试向量得到对应子系统的测试结果。
[0050]优选地，所述根据所述起始和结束地址获取所述测试向量之前，所述方法还包括:
[0051 ] STC接收测试log地址；
[0052]相应的，所述执行所述测试向量得到对应子系统的测试结果之后，所述方法还包括:
[0053]STC根据所述测试log地址对所述测试结果进行存储。
[0054]优选地,所述测试向量和所述测试结果存储在STC。
[0055]优选地，所述测试向量由多个指令字段和数据字段组合串行构成，如图4所示。在实际应用中，所述测试向量的具体格式可以根据情况特殊定义。
[0056]这里，所述数据字段长度是可变的，也可以根据需要将部分指令字段对应的数据字段省略。指令字段可以采用以下类型的指令:写指令，用于指示将数据字段中的数据写入需要的地址中；搬移指令，用于指示将某个地址中的数据搬移到目的地址当中；查询指令，用于指示查询某一个地址的值是否为期望值，如果不是则反复查询，直到查询成功执行下一条测试向量；延迟指令，用于指示等待一段时间后再执行下一条测试向量；读取指令，用于指示查询某一个或者一段地址内的数据，再从另一个或者一段地址内读取校验数据，进行比较，将比较结果作为日志(log)存储到设置的地址当中。
[0057]由于只需要处理上述几种类型的指令，因此STC的结构可以很简单。由此在STC上运行的测试向量可以很简单，无需复杂的编程工作，进而能够实现根据简单的测试代码得到准确的测试结果，从而提高测试效率。
[0058]对应图1所示的SoC芯片测试系统，本发明提供了一种STC，如图5所示，所述STC包括:
[0059]起始和结束地址接收单元，用于通过外设接口接收片外测试终端配置的测试向量的起始和结束地址；
[0060]测试向量获取单元，用于根据地址接收单元收到的起始和结束地址获取所述测试向量;
[0061]执行单元，用于执行测试向量获取单元获取的测试向量得到对应子系统的测试结果O
[0062]优选地，所述STC还可以包括:
[0063]测试log地址接收单元，用于接收测试log地址；
[0064]存储单元，用于根据所述测试log地址接收单元收到的测试log地址对所述测试结果进行存储。
[0065]优选地，所述STC还可以包括:存储单元，用于存储所述测试向量和所述测试结果O
[0066]综上所述，本发明通过在SoC芯片内部设置结构简单的STC，可以采用简单的测试向量进行测试结果，从而提高测试结果的准确性，并提高测试效率。
[0067]以上所述，仅为本发明的较佳实施例而已，并非用于限定本发明的保护范围。
【权利要求】
1.一种片上系统(SoC)芯片测试方法，其特征在于，所述方法包括: 在SoC芯片内部设置系统测试控制器(STC)，所述STC通过总线与SoC芯片的各子系统连接； 所述STC通过外设接口接收片外测试终端配置的测试向量的起始和结束地址，根据所述起始和结束地址获取所述测试向量，执行所述测试向量得到对应子系统的测试结果。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述起始和结束地址获取所述测试向量之前，所述方法还包括: STC接收测试log地址； 相应的，所述执行所述测试向量得到对应子系统的测试结果之后，所述方法还包括: STC根据所述测试log地址对所述测试结果进行存储。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述测试向量和所述测试结果存储在STC。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试向量由多个指令字段和数据字段组合串行构成。
5.一种STC，其特征在于，所述STC包括: 起始和结束地址接收单元，用于通过外设接口接收片外测试终端配置的测试向量的起始和结束地址； 测试向量获取单元，用于根据地址接收单元收到的起始和结束地址获取所述测试向量; 执行单元，用于执行测试向量获取单元获取的测试向量得到对应子系统的测试结果。
6.根据权利要求5所述的STC，其特征在于，所述STC还包括: 测试log地址接收单元，用于接收测试log地址； 存储单元，用于根据所述测试log地址接收单元收到的测试log地址对所述测试结果进行存储。
7.根据权利要求6所述的STC，其特征在于，所述STC还包括: 存储单元，用于存储所述测试向量和所述测试结果。
8.一种SoC芯片测试系统，其特征在于，所述系统包括:STC、总线和外设接口，其中， 所述STC通过总线与SoC芯片的各子系统连接； 所述STC通过外设接口接收片外测试终端配置的测试向量的起始和结束地址，根据所述起始和结束地址获取所述测试向量，执行所述测试向量得到对应子系统的测试结果。
9.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，所述STC，还用于通过外设接口接收片外测试终端配置的接收测试log地址，并根据所述测试log地址对所述测试结果进行存储。
10.根据权利要求9所述的系统，其特征在于，所述测试向量和所述测试结果存储在STC。
11.根据权利要求8所述的系统，其特征在于， SoC芯片的各子系统分别连接一个测试盒子，所述测试盒子与子系统之间分别通过总线接口和专用接口连接，所述测试盒子与总线之间通过总线接口连接，所述测试盒子分别与其他各子系统通过专用接口连接； 所述测试盒子用于将对应子系统于STC间通过总线传输的数据进行多路复用。
【文档编号】G01R31/3185GK104049204SQ201310076708
【公开日】2014年9月17日 申请日期:2013年3月11日 优先权日:2013年3月11日
【发明者】张磊 申请人:中兴通讯股份有限公司