专利名称：异步通讯芯片时间参数的测试方法
技术领域：
本发明涉及一种大规模集成电路异步通讯芯片测试方法，特别是涉及一种当异步通讯芯片的时间参数相当小甚至高于测试仪的精度时时间参数的测试方法。
背景技术：
在对一些异步通讯芯片进行评价或测试时，往往会先对芯片发出一个指令然后等待芯片的响应，当得到响应后等待一段时间，然后再发出第二个指令再看操作的结果。现在的问题是1、当这一等待时间非常短，甚至测试仪在处理第一个响应的时间就已经超过了最小等待时间时如何测试这一等待时间。
2、由于是异步通讯芯片，同一个芯片每次响应的时间都是随机分布，不确定的，而响应出来的先后又会影响到第二个指令操作的结果。因此如何设定这个等待时间也是非常困难的。
用现有的测试方法是很难测到上述等待时间的。这些也正是本发明所要攻克的难点。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种异步通讯芯片时间参数的测试方法，它可对异步通讯芯片实现随机响应后，当等待时间非常短，甚至测试仪来不及测量这个时间时，检测出该等待时间。
为解决上述技术问题，本发明异步通讯芯片时间参数的测试方法，首先，通过对被测芯片进行多次测试响应时间统计，计算出平均值；再统计一个等待时间后动作响应合格的概率；根据这个概率计算出概率为50％的中心点，与前面计算出的平均值相减测出等待时间。
采用本发明的方法可以对一些芯片进行评价与验证。例如采用一般的测试仪进行测试的方法，由于第一个指令响应是随机分布的，所以看到第二个指令的结果则是不稳定的。若想要测到这个等待时间是非常困难的。因为如果用判断响应出来后再等待一段等待时间的方法，测试仪判断处理就需要200纳秒，而实际等待时间只需要几十纳秒，所以若要测试与评价这类芯片，就必须使用更高级的测试仪来进行。而采用本发明的方法进行测试只需要使用普通的测试仪。这也意味着对一个产品的开发测试成本大大地降低了。
下面结合附图与具体实施方式
对本发明作进一步详细的说明图1是测试异步通讯芯片等待时间的示意图；图2～3是采用本发明的方法测试异步通讯芯片等待时间的示意图。
具体实施例方式
本发明异步通讯芯片时间参数的测试方法，使用统计学中的高斯分布的特性来解决上述时间测量问题。通过对异步通讯芯片第一个指令响应时间进行一个统计。由于响应的时间先后是随机的，所以对测试响应的统计可以得到一个高斯分布的统计数据图。而对第二个指令的等待时间的测量，可以选择一个合适的等待时间进行操作，统计在这个等待时间下指令响应结果合格与不合格的概率。由于第二个指令响应结果合格与否是由第一个指令响应的先后决定的。第一个指令响应来得早，后面等待时间就长，第二个指令响应结果就成功。因此，第二个指令响应结果合格的概率分布图是与第一个指令响应的分布图是一致的。将两个分布图的中心线相减就可以得到实际需要的最小准备时间。以此来实现对异步通讯芯片动作等待时间的测试。
如图1所示，这类测试时会碰到下述问题T1为第一个指令执行后响应出现的时间，T2为响应出现后到第二个指令执行实际等待时间，T3为第一个指令执行后到第二个指令执行间的等待时间。由于响应的输出是随机的，因此T1是随机变化的。T3一般是固定的，因此T2也是随机变化的。当T2过短的时候就会造成第二个指令的结果不合格。
如图2所示，在实际的运用时，先只执行第一个指令若干次(例如5000次)统计响应出现的时间，根据统计数据可以画出响应的高斯分布图以及计算出随机分布图的中心点与标准偏差。然后，选择合适的等待时间T3，统计第二个指令合格的概率。由于第二个指令的结果是由第一个指令响应的先后引起的，因此第二个指令合格概率的分布与第一个指令响应的分布相同，两个分布的标准偏差相同。
再参见图3，由标准高斯分布的密度函数和T3合格的概率，由公式一可以计算出分布数值Z。
Z=X-μσ]]>(公式一)其中，Z为分布数值，μ为平均值，σ为标准偏差，X为实际坐标。由分布数值Z和标准偏差σ以及图3中B点的时间(B点就是选择一个固定T3时间开始第二个指令的时间点)，用公式二就可以计算出C点的坐标(分布的中心点)。
P=∫-∞z12πe-z22dz]]>(公式二)其中，P为累积概率，Z为分布数值。
将图3中C点与A点(响应时间分布的中心点)坐标相减就得到了最小等待时间。
权利要求
1.一种异步通讯芯片时间参数的测试方法，其特征在于首先，通过对被测芯片进行多次测试响应时间统计，计算出平均值；再统计一个等待时间后动作响应合格的概率；根据这个概率计算出概率为50％的中心点，与前面计算出的平均值相减测出等待时间。
全文摘要
本发明公开了一种异步通讯芯片时间参数的测试方法，首先，通过对被测芯片进行多次测试响应时间统计，计算出平均值；再统计一个等待时间后动作响应合格的概率；根据这个概率计算出概率为50％的中心点，与前面计算出的平均值相减测出等待时间。本发明可以提高测试时间参数的能力，用较低级的测试仪就可以测试高精度的时间信号，最大限度降低了新产品开发测试的成本。
文档编号H04B17/00GK1980101SQ20051011129
公开日2007年6月13日 申请日期2005年12月8日 优先权日2005年12月8日
发明者武建宏, 谢晋春 申请人:上海华虹Nec电子有限公司