技术编号:6190390
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及涉及。该方法是使用X射线荧光光谱仪测定有机硅粉末样品中Cu、Fe、Al、Ca、Zn、Ni、Sn、Pb、Mn、Ti、P、V、Mg、Cr、Zr、S16种元素的含量。XRF法与ICP-AES法所测各元素的含量相差不大,且两种分析方法的分析误差满足工业硅微量元素的分析误差要求,而ICP-AES法检测时间达到3.5h,XRF法仅需0.5h。专利说明一种有机娃粉末样品中16种元素的含量分析方法[0001]本发明涉及一种含量分析方法,尤其涉及。背景技术[000...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。