技术编号:6193384
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型公开一种用于激光钻孔偏移测试装置,包括多个相互独立的第一层线路、多个相互电连接的第二层线路,所述第一层线路和第二层线路之间具有绝缘层,每一第一层线路具有对应的共中心线的第二层线路,所述对应的第一层线路、第二层线路之间具有一阶盲孔,所述一阶盲孔和所述第二层线路之间依次具有逐渐增大的绝缘间隔。本实用新型能够方便快捷的实现盲孔偏移检测。专利说明激光钻孔偏移测试装置[0001]本实用新型涉及电路板制作领域,特别是一种用于电路板的激光钻孔偏移测试装置。背景...
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