激光钻孔偏移测试装置制造方法
【专利摘要】本实用新型公开一种用于激光钻孔偏移测试装置，包括多个相互独立的第一层线路、多个相互电连接的第二层线路，所述第一层线路和第二层线路之间具有绝缘层，每一第一层线路具有对应的共中心线的第二层线路，所述对应的第一层线路、第二层线路之间具有一阶盲孔，所述一阶盲孔和所述第二层线路之间依次具有逐渐增大的绝缘间隔。本实用新型能够方便快捷的实现盲孔偏移检测。
【专利说明】激光钻孔偏移测试装置
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及电路板制作领域，特别是一种用于电路板的激光钻孔偏移测试装置。
【背景技术】
[0002]当前电子产品的不断小型化、轻便化，电子产品的功能不断增多，促使电子产品中对印制电路板(Printed Circuit Board, PCB)的需求尺寸越来越小,布线密度越来越高,多层电路板由于具有较多的布线面积和较高的装配密度得到了广泛应用。
[0003]在电路板制造过程中，通孔通常采用机械钻孔，而盲孔通常采用激光钻孔，现有技术中对于盲孔的对位偏移，尤其是底部的偏移状况无法进行较好的检测。
实用新型内容
[0004]本实用新型的解决的技术问题是提供一种能够检测盲孔偏移的激光钻孔偏移测
试装置。
[0005]本实用新型的一个较佳实施方式中，提供一种激光钻孔偏移测试装置，其包括多个相互独立的第一层线路、多个相互电连接的第二层线路，所述第一层线路和第二层线路之间具有绝缘层，每一第一层线路具有对应的共中心线的第二层线路，所述对应的第一层线路、第二层线路之间具有一阶盲孔，所述一阶盲孔和所述第二层线路之间依次具有逐渐增大的绝缘间隔。
[0006]优选的，所述一阶盲孔包括和所述第一层线路、所述第二层线路电连接的基准孔。
[0007]优选的，还包括和每一第一层线路对应的第三层线路，所述第三层线路和所述第二层线路之间具有绝缘层。
[0008]优选的，所述一阶盲孔数量为9，包括I个基准孔和8个具有测试孔，所述一阶盲孔和所述第二层线路的绝缘间隔依次为0,1.75mil，2.25mil，2.75mil，3.25mil，3.75mil，
4.25mil，4.75mil，5.25mil。
[0009]本实用新型的另一较佳实施方式中，提供一种激光钻孔偏移测试装置，其包括多个相互独立的第一层线路、多个相互电连接的第二层线路和多个相互电连接的第三层线路，所述第一层线路和第二层线路之间具有绝缘层，所述第二层线路和第三层线路之间具有绝缘层，所述第二层线路包括第一组线路和第二组线路，所述第一层线路对应所述第一组线路，所述第一层线路和所述第一组线路之间具有一阶盲孔，所述第二组线路对应所述第三层线路，所述第二组线路和对应的第三层线路之间具有二阶盲孔，所述二阶盲孔和所述第三层线路之间具有逐渐增大的绝缘间隔，所述一阶盲孔对应的第一组线路分别电连接所述二阶盲孔对应的第二组线路。
[0010]优选的，所述一阶盲孔内壁分别和所述第一层线路、第一组线路电连接，所述二阶盲孔分别和所述第二组线路电连接，且所述二阶盲孔和所述第三层线路之间的绝缘间隔长度从零开始依次逐渐增大。[0011]与现有技术相比较，本实用新型激光钻孔偏移测试装置包括基准孔和测试孔，并且通过在一阶盲孔或/和二阶盲孔与对应的线路之间设置逐渐增大的绝缘间隔，可以很方便通过电表两端是否导通的实现对应一阶盲孔或/和二阶盲孔的偏移检测，效率较高且方便快捷。
【专利附图】
【附图说明】
[0012]图1是本实用新型激光钻孔偏移测试装置的一个实施方式的示意图；
[0013]图2是本实用新型激光钻孔偏移测试装置的另一实施方式的示意图。
【具体实施方式】
[0014]下面将对本实用新型实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式仅是本实用新型的一部分实施方式，而不是全部的实施方式。基于本实用新型中的实施方式，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施方式，都属于本实用新型保护的范围。
[0015]随着电子产品的普及和广泛应用，PCB板的生产和制造技术也不断更新和发展。为适应生产不同电子类产品的需求，所设计制造的PCB板已经由单层板发展成双层板或多层板。针对高密度多层板的盲孔偏移检测，本实用新型提供了 一种激光钻孔偏移测试装置，包括多个相互独立的第一层线路、多个相互电连接的第二层线路，所述第一层线路和第二层线路之间具有绝缘层，每一第一层线路具有对应的共中心线的第二层线路，所述对应的第一层线路、第二层线路之间具有一阶盲孔，所述一阶盲孔和所述第二层线路之间依次具有逐渐增大的绝缘间隔。
[0016]本实用新型还提供一种激光钻孔偏移测试装置，包括多个相互独立的第一层线路、多个相互电连接的第二层线路和多个相互电连接的第三层线路，所述第一层线路和第二层线路之间具有绝缘层，所述第二层线路和第三层线路之间具有绝缘层，所述第二层线路包括第一组线路和第二组线路，所述第一层线路对应所述第一组线路，所述第一层线路和所述第一组线路之间具有一阶盲孔，所述第二组线路对应所述第三层线路，所述第二组线路和对应的第三层线路之间具有二阶盲孔，所述二阶盲孔和所述第三层线路之间具有逐渐增大的绝缘间隔，所述一阶盲孔对应的第一组线路分别电连接所述二阶盲孔对应的第二组线路。
[0017]请参阅图1，本实用新型激光钻孔偏移测试装置的一个实施方式包括依次设置的多个相互独立的第一层线路1、多个相互电连接的第二层线路2和第三层线路3，所述第一层线路I和第二层线路2之间、第二层线路2和第三层线路3之间具有绝缘层。每一第一层线路I具有对应的共中心线的第二层线路2和第三层线路3。所述对应的第一层线路1、第二层线路2和第三层线路3具有盲孔4。如图1所示，在上述实施方式中，所述激光钻孔偏移测试装置具有9个依次排列的盲孔4，所述盲孔4为激光钻孔。其中，定义所述盲孔4在所述第二层线路2的开口最下面的孔为基准孔5 (按照说明书附图竖放的方向从上看下去)，同样的，按照图1所示，从所述基准孔5向上，所述第二层线路2在所述盲孔4周围依次设置逐渐增大的绝缘间隔。事实上，所述盲孔4在所述第二层线路2所在平面的开口大小均具有基准孔5 —致的大小。所述第三层线路3起保护作用，用于防止所述盲孔4钻到电路板的其他层线路。
[0018]在本实施方式中，如图1所示，所述基准孔5与第一层线路1、第二层线路2和第三层线路3均电连接。除开第一个基准孔5外，剩下的8个盲孔4作为测试孔，且所述第二层线路2和其他8个所述盲孔4的绝缘间隔分别为依次增大的Cl，C2, C3, C4，C5，C6，C7，C8。在本实施方式中，Cl=L 75mil, C2=2.25mil, C3=2.75mil, C4=3.25mil, C5=3.75mil,C6=4.25mil，C7=4.75mil，C8=5.25mil。为了描述方便，在本实施方式中将绝缘间隔Ci( i=l，2，3，4，5，6，7，8)对应的测试孔称为第i个测试孔。
[0019]测试时，将电表一端连接所述基准孔5，另一端依次连接测试孔。如果在电表另一端连接到某个测试孔的时候电表两端导通，则表明所述盲孔4的偏移大小不小于这个测试孔对应的绝缘间隔大小；如果在电表另一端连接到某个测试孔的时候电表两端不导通，则表明所述盲孔4的偏移大小小于这个测试孔对应的绝缘间隔大小。例如，将电表一端连接所述基准孔5，另一端按照绝缘检测间隔从小到大依次连接测试孔，当连接到第I?3个测试孔时电表两端导通，而连接到第4个测试孔时电表两端不导通，则表明所述盲孔4的偏移大小不小于C3且小于C4，具体在本实施方式中就是偏移大小在[2.75mil，3.25mil)范围内。上述实施方式中的激光钻孔偏移测试装置可以设置在电路板板边区域，并且和电路板同时进行激光钻孔。
[0020]采用上述实施方式的激光钻孔偏移测试装置，通过检测基准孔和测试孔之间的导通情况可以很方便的测试盲孔的偏移情况。
[0021]请参阅图2，是本实用新型激光钻孔偏移测试装置的另一实施方式的示意图，其包括多个相互独立的第一层线路10、多个相互连接的第二层线路20、多个相互连接的第三层线路30和多个第四层线路40。所述第一层线路10、第二层线路20、第三层线路30和第四层线路40之间分别具有绝缘层。所述第四层线路40可以起到保护作用，用于防止盲孔钻到电路板的其他层线路。
[0022]所述第二层线路20包括和所述第一层线路10对应的第一组线路201以及和所述第一层线路10不对应的第二组线路202。所述第一层线路10和第一组线路201之间具有一阶盲孔，在如图2所示的实施方式中，所述第一层线路10和对应的第二层线路20之间的一阶盲孔包括基准盲孔50、第一测试盲孔51和第二测试盲孔52。所述基准盲孔50、第一测试盲孔51和第二测试盲孔52的内壁和所述第一层线路10和第一组线路201之间电连接。
[0023]所述第二组线路202具有对应的且共中心线的第三层线路30和第四层线路40，每一第二组线路202和对应的第三层线路30、第四层线路40之间具有二阶盲孔，在如图2所示的实施方式中，所述二阶盲孔包括第一二阶盲孔61、第二二阶盲孔62和第三二阶盲孔63。其中，所述第一二阶盲孔61内壁和对应的所述第二组线路202、第三层线路30电连接，为方便描述，定义所述第一二阶盲孔61和所述第三层线路30之间具有第一绝缘间隔且第一绝缘间隔长度为O。所述第二二阶盲孔62内壁和对应的所述第二组线路202电连接，但和对应的第三层线路30之间具有第二绝缘间隔(未标号)。所述第三二阶盲孔63内壁和对应的所述第二组线路202电连接，但和对应的第三层线路30之间具有第三绝缘间隔(未标号)，且所述第三绝缘间隔的长度大于所述第二绝缘间隔长度，所述第二绝缘间隔长度大于所述第一绝缘间隔长度。
[0024]所述基准盲孔50对应的第一组线路201电连接所述第一二阶盲孔61对应的第二组线路202。所述第一测试盲孔51对应的第一组线路201电连接所述第二二阶盲孔62对应的第二组线路202。所述第二测试盲孔52对应的第一组线路201电连接所述第三二阶盲孔63对应的第二组线路202。上述盲孔均为激光钻孔得到。
[0025]测试时,将电表一端连接基准盲孔50,另一端连接第一测试盲孔51,如果电表两端不导通，则表明所述二阶盲孔61?63的偏移大小小于所述第一绝缘间隔的长度。如果另一端连接第一测试盲孔51时电表两端导通，然后连接第二测试盲孔52时电表两端不导通，则表明所述二阶盲孔61?63的偏移大小在第一绝缘间隔的长度大小和第二绝缘间隔长度大小之间。
[0026]为了描述方便，上述实施方式中只是示意性的列出了 3个一阶和二阶盲孔，实际上，在本实用新型进一步或其他的实施方式中，所述一阶盲孔和二阶盲孔的数量可以根据需要设定为7个，8个或者其他数量，只需一阶盲孔和二阶盲孔数量对应一致即可，并且所述二阶盲孔除开和一阶盲孔中基准盲孔对应的二阶盲孔外，其他的二阶盲孔和第三层线路之间具有依次逐渐增大的绝缘间隔。绝缘间隔的长度大小(或宽度大小)可以根据需要设定。上述实施方式中，激光钻孔偏移测试装置可以设置在电路板板边。
[0027]上述实施方式中将一阶盲孔和二阶盲孔通过第一组线路和第二组线路连接对应，在二阶盲孔和第三层线路间设置逐渐增大的绝缘间隔，通过将一阶盲孔作为测试孔可以很方便的得到二阶盲孔的偏移状况。
[0028]相较于现有技术，本实用新型激光钻孔偏移测试装置包括基准孔和测试孔，并且通过在一阶盲孔或/和二阶盲孔与对应的线路之间设置逐渐增大的绝缘间隔，可以很方便通过电表两端是否导通的实现对应一阶盲孔或/和二阶盲孔的偏移检测，效率较高且方便快捷。
[0029]以上内容是结合具体的优选实施方式对本实用新型所作的进一步详细说明，不能认定本实用新型的具体实施只局限于这些说明。对于本实用新型所属【技术领域】的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本实用新型的保护范围。
【权利要求】
1.一种激光钻孔偏移测试装置，其特征在于，包括多个相互独立的第一层线路、多个相互电连接的第二层线路，所述第一层线路和第二层线路之间具有绝缘层，每一第一层线路具有对应的共中心线的第二层线路，所述对应的第一层线路、第二层线路之间具有一阶盲孔，所述一阶盲孔和所述第二层线路之间依次具有逐渐增大的绝缘间隔。
2.根据权利要求1所述的激光钻孔偏移测试装置，其特征在于，所述一阶盲孔包括和所述第一层线路、所述第二层线路电连接的基准孔。
3.根据权利要求2所述的激光钻孔偏移测试装置，其特征在于，还包括和每一第一层线路对应的第三层线路，所述第三层线路和所述第二层线路之间具有绝缘层。
4.根据权利要求3所述的激光钻孔偏移测试装置，其特征在于，所述一阶盲孔数量为9，包括I个基准孔和8个具有绝缘间隔的测试孔，所述一阶盲孔和所述第二层线路的绝缘间隔依次为 O, 1.75mil，2.25mil，2.75mil，3.25mil，3.75mil，4.25mil，4.75mil，5.25mil。
5.一种激光钻孔偏移测试装置，其特征在于，包括多个相互独立的第一层线路、多个相互电连接的第二层线路和多个相互电连接的第三层线路，所述第一层线路和第二层线路之间具有绝缘层，所述第二层线路和第三层线路之间具有绝缘层，所述第二层线路包括第一组线路和第二组线路，所述第一层线路对应所述第一组线路，所述第一层线路和所述第一组线路之间具有一阶盲孔，所述第二组线路对应所述第三层线路，所述第二组线路和对应的第三层线路之间具有二阶盲孔，所述二阶盲孔和所述第三层线路之间具有逐渐增大的绝缘间隔，所述一阶盲孔对应的第一组线路分别电连接所述二阶盲孔对应的第二组线路。
6.根据权利要求5所述的激光钻孔偏移测试装置，其特征在于，所述一阶盲孔内壁分别和所述第一层线路、第一组线路电连接，所述二阶盲孔分别和所述第二组线路电连接，且所述二阶盲孔和所述第三层线路之间的绝缘间隔长度从零开始依次逐渐增大。
【文档编号】G01B7/00GK203443535SQ201320414295
【公开日】2014年2月19日 申请日期:2013年7月11日 优先权日:2013年7月11日
【发明者】孟昭光 申请人:东莞市五株电子科技有限公司