技术编号：6214636
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明是一种空隙配置构造体，其被用于以下方法，即通过对保持有被测定物的空隙配置构造体照射电磁波，并对通过所述空隙配置构造体而散射的电磁波的频率特性进行检测，从而测定所述被测定物的特性，所述空隙配置构造体具有第1主面、与所述第1主面对置的第2主面、以及在与所述第1主面以及所述第2主面垂直的方向上贯通的多个空隙部，所述第1主面上的所述空隙部的开孔面积比所述第2主面上的所述空隙部的开孔面积小。专利说明 [0001]本发明涉及被用于被测定物的测定的。 背景...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。