技术编号:6217986
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明是有关于一种检测方法包括下列步骤令光电检测元件与包括多个像素单元的像素阵列基板接触。输入多个电气信号至像素阵列基板的像素单元与光电检测元件。根据光电检测元件的光学特性,判断像素阵列基板的像素单元是否正常。此外,一种实现上述检测方法的检测装置亦被提出。专利说明检测方法及检测装置 [0001] 本发明是有关于一种检测方法及检测装置,且特别是有关于一种用于检测像素阵 列基板的检测方法及检测装置。 背景技术 [0002] 显示器包括像素阵列基板以及...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。