技术编号:6221844
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明提供荧光X射线分析装置,其能够检测载置于落下防止板上的异物。该荧光X射线分析装置具有试样台,其在X射线照射位置处具有孔部,能够在孔部上设置试样;X射线源,其从下方对试样照射原级X射线(X1);检测器,其相对于孔部配置在下方,对从被照射原级X射线的试样产生的荧光X射线(X2)进行检测;透明的落下防止板,其以能够进退的方式支承在孔部的正下方;驱动机构,其使落下防止板进退;观察用照相机,其设置在孔部的下方,能够对位于孔部的正下方时的落下防止板进行观察;以及...
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