技术编号：6223813
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了，步骤如下1）二次再结晶退火后，切取取向硅钢试样，标示出取向硅钢试样上的晶界线并编号；2）采用图像分析仪测量出照片中各晶粒的面积；3）采用电子背散射衍射方法测量出取向硅钢试样中每个晶粒的取向，计算出每个晶粒与理想的高斯晶粒之间存在的取向偏离角；4）将各晶粒的面积除以整个取向硅钢试样的面积作为每个晶粒的权重，再分别乘以该晶粒的取向偏离角，并定义为各晶粒的权重取向偏离角，最后将各晶粒的权重取向偏离角相加得到取向硅钢试样偏离角。本发明能够测得整个材料...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。