技术编号:6231639
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了,包括计算有机半导体器件中载流子的跃迁速率,并选择一种状态密度来表示载流子的分布状况;根据计算的有机半导体器件中载流子的跃迁速率和选择的状态密度,确定能量空间中没有被载流子占据的空位置数;根据确定的能量空间中没有被载流子占据的空位置数,确定载流子跃迁的距离;根据确定的载流子跃迁的距离计算有机半导体器件的电流密度,并以该电流密度来表征有机半导体器件的弛豫现象。本发明计算过程简单,可广泛应用于各种无序的半导体材料和器件,如有机半导体,非晶半导体等驰...
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