技术编号：6243850
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开一种微电容测试连接装置，包括金属底座(1)，所述金属底座(1)顶面设有背面共地结构的共面波导(2)，共面波导(2)的导电金属带(4)上设有用于放置电容的卡槽(13)，导电金属带(4)的两端分别设有与电容测试仪连接的SMA接口；共面波导(2)及SMA接口的特征阻抗与电容测试仪的特征阻抗相匹配；共面波导及SMA接口的特征阻抗与电容测试仪器的特征阻抗相匹配，相当于把被测电容直接连接于电容测试仪的两个端口，消除了传统测试连接方法中，由于测量仪与被测电容之...
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