技术编号：6422895
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及半导体器件的电性能测试设备，尤其是涉及一种一种充分利用探针使用寿命的PCB板测试治具。背景技术在印刷电路板的生产时，需要通过治具来测试其电性能，PCB板测试治具是一种以PCB板为模型而设计的、用于电性能通断测试的一种专用夹具，有单面治具、双面治具之分，治具具有针盘，针盘上的探针直接决定电性能测试的稳定性以及效率；在实际生产中，PCB板多为批量制造、批量测试，需要保证针盘上探针始终处于良好的状态，一旦达到其使用寿命后，其探针易于出现故障、尤其是间歇...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。