专利名称：一种充分利用探针使用寿命的pcb板测试治具的制作方法
技术领域：
本发明涉及半导体器件的电性能测试设备，尤其是涉及一种一种充分利用探针使用寿命的PCB板测试治具。
背景技术：
在印刷电路板的生产时，需要通过治具来测试其电性能，PCB板测试治具是一种以PCB板为模型而设计的、用于电性能通断测试的一种专用夹具，有单面治具、双面治具之分，治具具有针盘，针盘上的探针直接决定电性能测试的稳定性以及效率；在实际生产中，PCB板多为批量制造、批量测试，需要保证针盘上探针始终处于良好的状态，一旦达到其使用寿命后，其探针易于出现故障、尤其是间歇性故障，将导致误测试而造成质量事故，往往需要将大批量的产品收回重新测试；因此针盘探针的可靠性，严重影响测试的稳定性和可靠性； 目前在大批量PCB板测试过程中，一般采用定期更换针盘，拆卸的针盘被丢弃；这种直接定期更换的这种方式，会因为不同阶段所测试的PCB批量不同，一些尚具有较长使用寿命的针盘也会被弃用，由于探针价格高昂，从而形成一种较大的浪费，并使生产成本增高。
发明内容
本发明主要目的是提供一种能够充分利用针盘的使用寿命而降低生产成本的一种充分利用探针使用寿命的PCB板测试治具。本发明的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的一种充分利用探针使用寿命的PCB板测试治具，包括上治具和下治具，下治具包括针盘与底座，其特征在于所述的针盘上设有触碰开关，触碰开关的触发端凸出于针盘的上表面；该触碰开关电连接有计数器。每次测试PCB板，上治具下压PCB板，由于触碰开关的触发端凸出于针盘的上表面，故PCB板触发触碰开关，形成一次测试计数，并显示在计数器上；通过计数器的统计，操作者可确定针盘的总测试次数，并根据总测试次数而确定针盘是否达到预期或设计的使用寿命，达到则更换针盘，否则继续使用；这种方式，可有效地控制针盘的使用寿命，在保证测试的稳定性和可靠性的情况下，充分地利用了针盘的使用寿命，降低了生产成本。为了便于操作者观察计数结果，作为优选，所述的计数器设于针盘与底座之间。计数器安装在针盘与底座之间，使之与下治具构成一种整体结构，不占用外部空间，并方便使用和存放。作为优选，所述的触碰开关设于远离计数器的一侧。相对于操作者，触碰开关与计数器一个在后一个在前，这种方式，便于操作者对PCB板在针盘上的操作。出于对触碰开关的保护，作为优选，所述的触碰开关的触发端下压至极限位置时，其触发端顶部低于针盘上表面。因此，本发明具有结构合理、易于制作等特点，尤其是具有可有效控制针盘的使用次数、能够充分利用针盘的使用寿命而达到大幅降低生产成本的有益效果。
附图I是本发明一种充分利用探针使用寿命的PCB板测试治具的一种结构示意图；附图2是附图I中的III处放大图；附图3是附图I中的IV处放大图。
具体实施例方式下面通过实施例，并结合附图，对本发明的技术方案作进一步具体的说明。实施例本发明一种充分利用探针使用寿命的PCB板测试治具，如附图I所示，其包括上治具I和下治具，下治具包括针盘2与底座3。 针盘2上设有触碰开关24，该触碰开关24电连接有计数器25。如附图3所示，计数器25设于针盘2与底座3之间。如附图2所示，触碰开关24设于远离计数器25的一侧，其触发端凸出于针盘2的上表面。触碰开关24的触发端下压至极限位置时，其触发端顶部低于针盘2上表面。使用时，将待测试的PCB板放置到下治具的针盘2上，上治具I下压，待测试的PCB板接触并下压触碰开关24的触发端，使触碰开关24得到触发并发出控制信号，计数器25随之增加一次计数；至此，测试计数完成。当计数器25统计的数量达到针盘2预期的使用次数，则更换针盘24，或更换下治具。
权利要求
1.一种充分利用探针使用寿命的PCB板测试治具，包括上治具(I)和下治具，下治具包括针盘(2)与底座(3)，其特征在于所述的针盘(2)上设有触碰开关(24)，触碰开关(24)的触发端凸出于针盘(2)的上表面；该触碰开关(24)电连接有计数器(25)。
2.根据权利要求I所述的一种充分利用探针使用寿命的PCB板测试治具，其特征在于所述的计数器(25)设于针盘(2)与底座(3)之间。
3.根据权利要求2所述的一种充分利用探针使用寿命的PCB板测试治具，其特征在于所述的触碰开关(24)设于远离计数器(25)的一侧。
4.根据权利要求I或2或3所述的一种充分利用探针使用寿命的PCB板测试治具，其特征在于所述的触碰开关(24)的触发端下压至极限位置时，其触发端顶部低于针盘(2)上表面。
全文摘要
本发明涉及一种充分利用探针使用寿命的PCB板测试治具，其包括上治具和下治具，下治具包括针盘与底座，其特征在于所述的针盘上设有触碰开关，触碰开关的触发端凸出于针盘的上表面；该触碰开关电连接有计数器。每次测试PCB板，上治具下压PCB板，由于触碰开关的触发端凸出于针盘的上表面，故PCB板触发触碰开关，形成一次测试计数，并显示在计数器上；通过计数器的统计，操作者可确定针盘的总测试次数，并根据总测试次数而确定的针盘是否达到预期或设计的使用寿命，达到则更换针盘；这种方式，可有效地控制针盘的使用寿命，在保证测试的稳定性和可靠性的情况下，充分地利用了针盘的使用寿命，降低了生产成本。
文档编号G06M1/10GK102707221SQ20111010156
公开日2012年10月3日 申请日期2011年4月22日 优先权日2011年4月22日
发明者张正太, 彭梅春, 文东升 申请人:苏州市科林源电子有限公司