一种测试探针的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及印刷领域，具体涉及一种测试探针。
【背景技术】
[0002]测试探针是应用于电子测试中测试印刷电路板的一种测试连接电子元件，在测试过程中，测试探针需要根据印刷电路板的不同测试点的形状来选择针头，例如，在测试凸状形平片状测试点和凸起状测试点时，需要不断更换尖头针头和内碗口型针头进行测试，工作过程繁琐，工作效率低。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型的目的是针对现有技术存在的问题提供一种既能测试凸状形平片状测试点又能测试凸起状测试点的测试探针。
[0004]—种测试探针，包括针管和针体，所述针管前端设有第一内滑道，第一内滑道内固定有第一弹簧，针体设置于内第一内滑道上并且与第一弹簧连接，所述针体端头设置有内碗口型针头，内碗口型针头中心朝向针体方向设置有第二内滑道，第二内滑道中设置有尖头针头，第二内滑道底部固定有第二弹簧，所述尖头针头根部与第二弹簧连接；
[0005]所述针体上设置有与第二内滑道连通的滑槽，尖头针头上设置有拨片，所述拨片位于滑槽中；
[0006]所述滑槽上部设置有卡槽；
[0007]所述针体上设置有定位块。
[0008]本实用新型具有以下有益效果:
[0009]本实用新型的针头为内碗口型和尖头针头两种针头，可用于检测凸状形平片状测试点和凸起状测试点，两种针头转换方便快捷，不需要对针头进行更换，大幅缩减工作过程，提高工作效率低。
【附图说明】
[0010]图1为本实用新型的结构示意图。
【具体实施方式】
[0011]如图1所示一种测试探针，包括针管I和针体2，所述针管I前端设有第一内滑道3，第一内滑道3内固定有第一弹簧4，针体2设置于内第一内滑道3上并且与第一弹簧4连接，所述针体2端头设置有内碗口型针头5，内碗口型针头5中心朝向针体2方向设置有第二内滑道6，第二内滑道6中设置有尖头针头7，第二内滑道6底部固定有第二弹簧8，所述尖头针头7根部与第二弹簧8连接；所述针体2上设置有与第二内滑道3连通的滑槽9，尖头针头7上设置有拨片10，所述拨片10位于滑槽9中；所述滑槽9上部设置有卡槽11 ;所述针体2上设置有定位块12。
[0012]当测试凸起状测试点时，将尖头针头7由二内滑道6中伸出，使用尖头针头7进行检测；当检测凸状形平片状测试点时，拉动拨片10使尖头针头7回缩至二内滑道6，再将拨片10卡入卡槽11中对尖头针头7进行固定，再采用内碗口型针头5进行检测；测试时，第一弹簧4起到缓冲作用，增加了探针的使用寿命，定位块12限制针体2在第一内滑道3内的滑动距离，防止针体2与针管I碰撞。
[0013]本实用新型不局限于上述最佳实施方式，任何人在本实用新型的启示下都可得出其他各种形式的产品，但不论在其形状或结构上作任何变化，凡是具有与本申请相同或相近似的技术方案，均落在本实用新型的保护范围之内。
【主权项】
1.一种测试探针，包括针管(I)和针体(2)，所述针管(I)前端设有第一内滑道(3)，第一内滑道(3)内固定有第一弹簧(4)，针体(2)设置于内第一内滑道(3)上并且与第一弹簧(4)连接，其特征在于:所述针体(2)端头设置有内碗口型针头(5)，内碗口型针头(5)中心朝向针体(2)方向设置有第二内滑道(6)，第二内滑道(6)中设置有尖头针头(7)，第二内滑道(6 )底部固定有第二弹簧(8 )，所述尖头针头(7 )根部与第二弹簧(8 )连接。2.如权利要求1所述一种测试探针，其特征在于:所述针体(2)上设置有与第二内滑道(3)连通的滑槽(9)，尖头针头(7)上设置有拨片(10)，所述拨片(10)位于滑槽(9)中。3.如权利要求2所述一种测试探针，其特征在于:所述滑槽(9)上部设置有卡槽(11)。4.如权利要求1至3任意一项所述一种测试探针，其特征在于:所述针体(2)上设置有定位块(12)。
【专利摘要】本实用新型涉及一种测试探针。本实用新型包括针管和针体，所述针管前端设有第一内滑道，第一内滑道内固定有第一弹簧，针体设置于内第一内滑道上并且与第一弹簧连接，所述针体端头设置有内碗口型针头，内碗口型针头中心朝向针体方向设置有第二内滑道，第二内滑道中设置有尖头针头，第二内滑道底部固定有第二弹簧，所述尖头针头根部与第二弹簧连接。本实用新型可用于检测凸状形平片状测试点和凸起状测试点，两种针头转换方便快捷，不需要对针头进行更换，大幅缩减工作过程，提高工作效率低。
【IPC分类】G01R1/067
【公开号】CN204832273
【申请号】CN201520649919
【发明人】钟晓华
【申请人】钟晓华
【公开日】2015年12月2日
【申请日】2015年8月26日