扎针及探针台的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及量测技术，尤其涉及一种扎针及探针台。
【背景技术】
[0002]在液晶面板使用中，当液晶面板遇到闪屏、电压接触不良等电性问题时，需要对液晶面板内像素单元的电性特性进行量测解析，而对像素单元的电性量测通常采用探针台(Probe Stat1n)实现。探针台主要应用于半导体行业、光电行业、集成电路以及封装的测试，广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量。在对液晶面板像素单元电性问题进行解析时，需要通过探针台的扎针与液晶面板的异常像素单元的测试点进行接触。
[0003]随着人们对液晶面板的高清晰、高分辨率要求的越来越高，液晶显示领域的技术人员也逐渐缩小了相同规格液晶面板上像素单元的尺寸。这种情况下，当液晶面板遇到电性问题时，就需要通过探针台对尺寸更小的像素单元的测试点进行量测。现有的探针台扎针与量测物接触的接触端一般为针尖形，这种探针台的扎针过于粗大，无法准确扎取被检测像素单元的测试点。现有的改进技术实现了对扎针的接触端细化，但由于接触端使用材质的限制，细化范围有限，细化后的扎针仍需要花费较长时间寻找与测试点的有效接触，不能有效量测被检测的像素单元，从而延长了问题解析周期。
【实用新型内容】
[0004]本实用新型提供一种扎针和探针台，以缩短被量测物体的问题解析周期。
[0005]第一方面，本实用新型实施例提供了一种扎针，包括:
[0006]第一导线、第二导线、通道开关、以及接触体；
[0007]所述接触体上设置有至少两个接触端，用于与被量测物接触，各接触端相互绝缘设置；
[0008]所述第一导线的一端与所述接触端一一对应连接，所述第一导线的另一端通过通道开关与第二导线相连，所述第二导线的另一端连接检测装置；
[0009]所述通道开关用于控制每根第一导线分别与第二导线连通。
[0010]进一步的，所述第二导线和通道开关的数量与所述第一导线的数量相同，分别
——对应连接。
[0011]进一步的，所述第二导线的数量为一条，所述通道开关为单刀多掷开关，用于分别将第一导线与所述第二导线连通。
[0012]进一步的，所述第一导线并列平行排列，且所述第一导线、通道开关和第二导线绝缘封装在笔式壳体中。
[0013]进一步的，接触端的形状为接触点或接触线。
[0014]进一步的，各接触端设置在所述接触体的同一接触平面上。
[0015]进一步的，至少两条接触线并列平行排列在所述接触平面上。
[0016]进一步的，所述接触端的尺寸量级为0.01mm。
[0017]第二方面，本实用新型实施例提供了一种探针台，包括上述的扎针，所述扎针设置在操作台上，与所述检测装置连接。
[0018]本实用新型提供的扎针和探针台，其中，所述扎针包括第一导线、第二导线、通道开关以及接触体，接触体上设置有至少两个接触端，用于与被量测物接触，各接触端相互绝缘设置；第一导线的一端与接触端一一对应连接，第一导线的另一端通过通道开关与第二导线相连，第二导线的另一端连接检测装置；通道开关用于控制每根第一导线分别与第二导线连通。通过设置至少有两个接触端的接触体与被量测物体的接触，大大增加了扎针与测试点的有效接触，从而更有效的进行量测物异常问题解析，达到缩短问题解析周期的效果O
【附图说明】
[0019]图1为本实用新型实施例一提供的一种扎针的结构示意图；
[0020]图2为本实用新型实施例二提供的一种扎针的结构示意图；
[0021]图3为本实用新型实施例三提供的一种探针台的结构示意图。
【具体实施方式】
[0022]下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本实用新型，而非对本实用新型的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本实用新型相关的部分而非全部结构。
[0023]实施例一
[0024]图1为本实用新型实施例一提供的一种扎针的结构示意图，该扎针包括:第一导线11，第二导线12，通道开关13，以及接触体14。
[0025]其中，接触体14上设置有至少两个接触端141，用于与被量测物接触，各接触端141相互绝缘设置；第一导线11的一端与所述接触端141 一一对应连接，第一导线11的另一端通过通道开关13与第二导线12相连，第二导线12的另一端连接检测装置15 ;通道开关13用于控制每根第一导线11分别与第二导线12连通。
[0026]在本实施例中，所述第一导线11、第二导线12具体为可导电的金属材质，第一导线11的数量与接触端141的数量相同。所述通道开关13控制第一导线11与第二导线12的连通关系。所述通道开关13可包括多个单一通道开关，一次只能有一个单一通道开关闭合，使相应的第一导线11通过第二导线12与检测装置15相连。所述通道开关13的开闭可以由设定按钮人为控制，或者也可以自动控制。
[0027]所述接触体14可以为一棱柱体，接触端141优选是设置在棱柱体的表面上，或者，接触端141也可以分散设置在接触体14的多个表面上。例如，接触体14为球状，接触端141分散设置在球状的表面。优选的，接触体14为三棱柱，其中一个侧面与量测物平行接触，并嵌入与量测物体接触的接触端141，且各接触端141相互绝缘间隔。
[0028]进一步的，第二导线12和通道开关13的数量可以与第一导线11的数量相同，分别一一对应连接。
[0029]第一导线11优选是并列平行排列；且第一导线11、通道开关13和第二导线12绝缘封装在笔式壳体中。这样能够使结构简洁、易于操作。
[0030]在本实施例中，第一导线11的数量与接触体14上接触端141的数量相同，为--
对应关系，相应的，由于第一导线11通过通道开关13与第二导线12相连，所以通道开关13包含单一通道开关的个数以及第二导线12的数量均与第一导线11相同。进而形成接触端141、第一导线11、通道开关13以及第二导线12的一对一连接关系。一般的，不对多条第一导线11间的排列分布做具体限定，优选的，为了便于通道开关13的连接控制，将第一导线11并列平行排列，相应的也可将第二导线12并列平行排列。同时，为了使用的方便，可以将第一导线11、通道开关13和第二导线12都绝缘封装在笔试壳体中。
[0031]进一步的，接触端141的形状为接触点或接触线。各接触端141设置在接触体14的同一接触平面上。至少两条接触线并列平行排列在所述接触平面上。接触端141的尺寸量级为0.0lmm0
[0032]具体的，本实施例中，接触体14上接触端141的材质与现有扎针的材质不同，现有扎针与测试点接触的部位为针尖形状，一般为普通金属材质，其尺寸量级最细能达到1_，所述接触端141采用特殊导电材质，其尺寸量级可达到0.0lmm0因接触端141的材质柔软，不能直接以针尖形状直接与测试点接触，需要嵌入到接触平面，同时，为了增大接触端141与测试点的有效接触，在接触体14上设置至少两个所述特殊材质的接触端141，各接触端141设置在接触体14的同一接触平面上，且各接触端141相互间绝缘。
[0033]所述接触端141在接触平面上的形状没有特定限制，可以为点或线。优选的，为了增大与测试点的接触几率，可将接触端141设置为接触线，且为了更好的使接触端141与第一导线11连接，接触平面上的接触线并列平行排列与第一导线11 一一对应连接。
[0034]示例性的，基于本实施例提供的扎针对液晶面板的像素单元进行电性问题测试，具体工作过程为:找出存