在异常问题的液晶面板的像素单元区域，确定被量测像素单元的测试点，将所述扎针接触体14上带有接触端141的接触平面对准要量测的像素单元；然后闭合其中任意一个通道开关13，观察相对应的接触端141形成通路时，显示在检测装置15屏幕上的脉冲信号是否为要进行问题解析的测试点的脉冲信号，如果刚好为测试点信号，则停止其他通道开关13的闭合，基于检测装置15进行问题解析；如果不是测试点信号，则断开当前通道开关13继续闭合其他任一个通道开关13，重复上述判断。
[0035]在上述扎针的量测过程中，接触体14上至少存在两个接触端141用于增大测试点的有效接触几率。由于接触体14上至少存在两个接触端141，当接触平面与要量测的像素单元接触时，有可能至少两个接触端141均与被量测像素单元接触，但至多只有一个接触端141与量测像素单元上的测试点接触，此时若通道开关13至少两个处于闭合状态，对应接触端141所形成的通路在检测装置15显示屏上所显示的脉冲信号并不是测试点处的脉冲信号，从而不能正常进行问题解析，因此需要采用单一通道开关依次进行开关闭合形成单一通路。
[0036]本实用新型实施例一提供了一种扎针，利用具有多个接触端的扎针与被量测物接触并通过单一通道开关的控制，可增大扎针与测试点的有效接触几率，从而更有效的进行异常问题量测，达到缩短问题解析周期的效果。
[0037]实施例二
[0038]图2为本实用新型实施例二提供的一种扎针的结构示意图，为扎针的另一种构造。图2所述的扎针包括:第一导线21、第二导线22、通道开关23、接触体24。其中，接触体24上设置有至少两个接触端241，用于与被量测物接触，各接触端241相互绝缘设置；第一导线21的一端与所述接触端241 —一对应连接，第一导线21的另一端通过通道开关23与第二导线22相连，第二导线22的另一端连接检测装置25 ;通道开关23用于控制每根第一导线21分别与第二导线22连通。
[0039]与实施例一中图1所述的扎针相比，其区别在于:
[0040]第二导线22的数量为一条，通道开关23为单刀多掷开关，用于分别将第一导线21与第二导线22连通。
[0041 ] 在本实施例中，将通道开关23优选为单刀多掷开关，相应的将第二导线22简化为一条导线，通过本实施例所述的扎针，通道开关23可将与任意第一导线21与第二导线22连接，从而使第一导线21相对应的接触端241与检测装置25形成通路，使接触端241对应量测点的脉冲信号显示于检测装置25的屏幕上。
[0042]示例性的，本实施例提供的扎针，一般可用于半导体，集成电路，以及封装的测试。具体的，在对液晶面板的像素单元进行电性问题测试时，先将接触体24的接触端241与所量测的像素单元接触，在接触过程中通过通道开关23选择任意第一导线21闭合形成通路；之后检验所形成通路的接触端241当前的量测点是否为所要解析的测试点；如果所述量测点为所要解析的测试点，则基于检测装置25进行之后的解析操作，如果不是所要解析的测试点，则将通道开关23的连接刀片掷于除当前第一导线21之外的其他任一第一导线21。其中，检验量测点是否为所要解析的测试点主要基于检测装置25显示屏上的脉冲信号是否为所要解析的测试点的脉冲信号。
[0043]本实用新型实施例二提供了扎针的另一种结构，利用具有至少两个接触端的扎针与被量测物接触并通过单刀多掷通道开关的控制，一方面，可增大扎针与测试点的有效接触几率，从而更有效的进行异常问题量测，达到缩短问题解析周期的效果。另一方面，本实施例优选的扎针，减少通道开关和第二导线数量，简化结构，易于操作。
[0044]实施例三
[0045]图3为本实用新型实施例三提供的一种探针台的结构示意图，该探针台应用了本实用新型任意实施例所提供的扎针。如图3所示，探针台包括:扎针31、操作台32、以及检测装置33。其中，扎针31设置在操作台32上，与检测装置33连接。
[0046]具体的，在本实施例中，扎针31通过支架设置在操作台32上，与检测装置33连接。基于操作台32使扎针31与被量测物体接触，并通过检测装置33对被量测物体的测试点进行问题解析。本实施例所述的探针台可用于半导体行业、光电行业、集成电路以及封装的测试，广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量。
[0047]本实用新型实施例提供的探针台，其上设置有上述任一实施例提供的扎针31，设置在操作台32上。扎针31的接触体上设置至少两个的接触端，接触端可为接触点或接触线，并基于与接触体连接的第一导线通过通道开关可与第二导线连接，最终与检测装置33相连通。由此增大扎针与测试点的有效接触几率，从而更有效的进行量测物测试点脉冲信号电压电流关系异常问题的量测解析，达到缩短问题解析周期的效果。
[0048]注意，上述仅为本实用新型的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本实用新型不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本实用新型的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本实用新型进行了较为详细的说明，但是本实用新型不仅仅限于以上实施例，在不脱离本实用新型构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本实用新型的范围由所附的权利要求范围决定。
【主权项】
1.一种扎针，其特征在于，包括:第一导线、第二导线、通道开关、以及接触体； 所述接触体上设置有至少两个接触端，用于与被量测物接触，各接触端相互绝缘设置； 所述第一导线的一端与所述接触端一一对应连接，所述第一导线的另一端通过通道开关与第二导线相连，所述第二导线的另一端连接检测装置； 所述通道开关用于控制每根第一导线分别与第二导线连通。2.根据权利要求1所述的扎针，其特征在于: 所述第二导线和通道开关的数量与所述第一导线的数量相同，分别一一对应连接。3.根据权利要求1所述的扎针，其特征在于: 所述第二导线的数量为一条，所述通道开关为单刀多掷开关，用于分别将第一导线与所述第二导线连通。4.根据权利要求1所述的扎针，其特征在于: 所述第一导线并列平行排列，且所述第一导线、通道开关和第二导线绝缘封装在笔式壳体中。5.根据权利要求1-4任一所述的扎针，其特征在于: 接触端的形状为接触点或接触线。6.根据权利要求5所述的扎针，其特征在于: 各接触端设置在所述接触体的同一接触平面上。7.根据权利要求6所述的扎针，其特征在于: 至少两条接触线并列平行排列在所述接触平面上。8.根据权利要求5所述的扎针，其特征在于: 所述接触端的尺寸量级为0.01mm。9.一种探针台，包括检测装置和操作台，其特征在于，还包括权利要求1-8任一所述的扎针，所述扎针设置在操作台上，与所述检测装置连接。
【专利摘要】本实用新型公开了一种扎针及探针台，该扎针包括：第一导线、第二导线、通道开关、以及接触体；所述接触体上设置有至少两个接触端，用于与被量测物接触，各接触端相互绝缘设置；所述第一导线的一端与所述接触端一一对应连接，所述第一导线的另一端通过通道开关与第二导线相连，所述第二导线的另一端连接检测装置；所述通道开关用于控制每根第一导线分别与第二导线连通。本实用新型利用扎针接触体至少两个接触端与被量测物体接触且通过通道开关单一控制通路的特性，来增大探针与测试点的有效接触几率，从而更有效的进行量测物异常问题解析，达到缩短问题解析周期的效果。
【IPC分类】G01R1/073, G09G3/00
【公开号】CN204903597
【申请号】CN201520694769
【发明人】陈国平
【申请人】昆山龙腾光电有限公司
【公开日】2015年12月23日
【申请日】2015年9月9日