技术编号:6560979
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明是一种用于智能卡芯片的测试方法和电路,用于智能卡的测试领域。背景技术随着射频技术的发展及其应用领域的拓宽,智能卡得到了越来越广泛的应用,同时市场 对其成本的要求也越来越低。现在随着芯片制造技术向深亚微米方向发展,特征尺寸进一步縮小,集成电路(ic)芯片中的晶体管、二极管、电阻、电容等器件及连线按比例缩小,逻辑、模拟、存储器等模块所占管芯的面积越来越小,然而,由于测试、封装等限制,芯片压焊点(PAD)的尺寸却无法按比例縮小,所以芯片压焊点(PAD)所占...
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