技术编号:6638785
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了一种嵌入式系统的调试方法及调试系统,该方法包括设置调试模式;根据所述调试模式将待调试程序文件的下载地址空间由映射至快闪记忆体改为映射至随机存取存储器;接收所述待调试程序文件,并将所述待调试程序文件存储至所述随机存取存储器中;接收调试指令,并运行所述调试指令,对所述待调试程序文件进行调试。本发明所述的嵌入式系统的调试方法及调试系统提高了调试过程中待调试程序文件下载的速度,并提高了嵌入式系统的寿命。专利说明一种嵌入式系统的调试方法及调试系统 ...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。