一种嵌入式系统的调试方法及调试系统的制作方法
【专利摘要】本发明公开了一种嵌入式系统的调试方法及调试系统，该方法包括设置调试模式；根据所述调试模式将待调试程序文件的下载地址空间由映射至快闪记忆体改为映射至随机存取存储器；接收所述待调试程序文件，并将所述待调试程序文件存储至所述随机存取存储器中；接收调试指令，并运行所述调试指令，对所述待调试程序文件进行调试。本发明所述的嵌入式系统的调试方法及调试系统提高了调试过程中待调试程序文件下载的速度，并提高了嵌入式系统的寿命。
【专利说明】一种嵌入式系统的调试方法及调试系统
【技术领域】
[0001]本发明涉及嵌入式系统调试领域，尤其涉及一种嵌入式系统的调试方法及调试系统。
【背景技术】
[0002]在嵌入式系统的软件开发和测试阶段，都会对编写的程序进行调试。在调试过程中，需要将待调试程序文件下载到嵌入式系统中。
[0003]现有技术中，待调试程序文件的下载地址空间为嵌入式系统的快闪记忆体(FLASH)映射的地址空间。此时，现有的调试方法会频繁地将编写、修改后的程序文件下载到所述FLASH中。由于擦写FLASH都比较费时，如果程序文件比较大，每次下载可能需要耗费数十秒。另外每次调试下载，都会擦写FLASH，而FLASH有一定的寿命，因此现有的调试方法会缩短FLASH的寿命，从而影响整个嵌入式系统的寿命。
【发明内容】
[0004]本发明的目的在于提出一种嵌入式系统的调试方法及调试系统，能够解决现有技术中待调试程序文件下载速度慢以及反复擦写FLASH引起的FLASH寿命短，从而影响整个嵌入式系统的寿命的问题。
[0005]为达此目的，本发明采用以下技术方案:
[0006]第一方面，本发明公开了一种嵌入式系统的调试方法，包括:
[0007]设置调试模式；
[0008]根据所述调试模式将待调试程序文件的下载地址空间由映射至快闪记忆体改为映射至随机存取存储器；
[0009]接收所述待调试程序文件，并将所述待调试程序文件存储至所述随机存取存储器中；
[0010]接收调试指令，并运行所述调试指令，对所述待调试程序文件进行调试。
[0011]进一步地，所述设置调试模式之前还包括:
[0012]发送调试模式更改请求；
[0013]接收所述调试模式更改请求，
[0014]所述设置调试模式具体为:
[0015]根据所述调试模式更改请求设置调试模式。
[0016]进一步地，所述发送调试模式更改请求之前还包括:
[0017]设置所述待调试程序文件的下载地址空间映射至快闪记忆体，并链接完成所述待调试程序文件。
[0018]第二方面，本发明公开了一种嵌入式系统的调试系统，包括:控制主机、调试电路和嵌入式系统，
[0019]所述控制主机通过所述调试电路与所述嵌入式系统连接；
[0020]所述控制主机通过所述调试电路向所述嵌入式系统发送控制指令及待调试程序文件；
[0021]所述嵌入式系统用于接收所述控制指令，并执行所述控制指令。
[0022]进一步地，所述控制指令包括调试模式更改请求和调试指令，所述嵌入式系统包括:总线、调试接口、调试模式寄存器、调试模式控制模块、快闪记忆体、随机存取存储器和控制器，
[0023]所述调试接口、所述调试模式寄存器、所述调试模式控制模块和所述控制器分别与所述总线连接，所述调试模式控制模块通过相应的选择性连接部件连接所述快闪记忆体或所述随机存取存储器；
[0024]所述调试接口用于接收所述控制指令和所述待调试程序文件；
[0025]所述调试模式寄存器用于根据所述调试模式更改请求设置调试模式的值；
[0026]所述调试模式控制模块用于根据所述调试模式的值选择连接所述快闪记忆体或所述随机存取存储器；
[0027]所述控制器用于运行所述调试指令，对所述待调试程序文件进行调试。
[0028]进一步地，所述调试模式寄存器设置为所述待调试程序文件的下载地址空间映射至随机存取存储器的调试模式后，只会被冷启动复位，所述复位为所述待调试程序文件的下载地址空间映射至快闪记忆体。
[0029]本发明所述的嵌入式系统的调试方法及调试系统通过将待调试程序文件的下载地址空间由映射至快闪记忆体改为映射至随机存取存储器，免除了擦写快闪记忆体的耗时，提高了待调试程序文件下载至嵌入式系统中的速度，并且由于免除了擦写快闪记忆体，提高了快闪记忆体的寿命，进而提高了嵌入式系统的寿命。
【专利附图】
【附图说明】
[0030]为了更加清楚地说明本发明示例性实施例的技术方案，下面对描述实施例中所需要用到的附图做一简单介绍。显然，所介绍的附图只是本发明所要描述的一部分实施例的附图，而不是全部的附图，对于本领域普通技术人员，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图得到其他的附图。
[0031]图1是本发明实施例一提供的嵌入式系统的调试方法的流程图。
[0032]图2是本发明实施例二提供的嵌入式系统的调试系统的结构图。
【具体实施方式】
[0033]为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，以下将结合本发明实施例中的附图，通过【具体实施方式】，完整地描述本发明的技术方案。显然，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例，基于本发明的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下获得的所有其他实施例，均落入本发明的保护范围之内。
[0034]实施例一:
[0035]图1是本发明实施例一提供的嵌入式系统的调试方法的流程图。如图1所示，该方法包括:
[0036]步骤101、设置调试模式。
[0037]本步骤中，设置调试模式的目的是将下载到嵌入式系统中的待调试程序文件的下载地址设置为映射至随机存取存储器中。随机存取存储器可以随时进行读写、读写速度较快，且读写的速度与其位置无关。虽然随机存取存储器在断电时会丢弃存储的内容，但是在整个调试过程中，是一直通电的状态。即使由于不可控的外界因素断电，由于其读写速度很快，再次重新写入待调试程序文件也不会耗费太多时间。
[0038]步骤102、根据调试模式将待调试程序文件的下载地址空间由映射至快闪记忆体改为映射至随机存取存储器。
[0039]本步骤中，嵌入式系统将待调试程序文件的下载地址设置为映射至随机存取存储器，从而避免了擦写快闪记忆体。快闪记忆体的读写速度较慢，且频繁进行擦写后会影响其寿命，进而影响整个嵌入式系统的寿命。本步骤将待调试程序文件的下载地址空间由映射至快闪记忆体改为映射至随机存取存储器，避免了对快闪记忆体的擦写，从而提高了待调试程序文件下载至嵌入式系统中的速度，并提高了快闪记忆体的寿命，进而提高了嵌入式系统的寿命。
[0040]步骤103、接收待调试程序文件，并将待调试程序文件存储至随机存取存储器中。
[0041]本步骤中，嵌入式系统接收待调试程序文件，并根据步骤102的设置，将接收到的待调试程序文件存储至随机存取存储器中。
[0042]步骤104、接收调试指令，并运行调试指令，对待调试程序文件进行调试。本步骤中，嵌入式系统接收调试指令，并运行调试指令，对随机存取存储器中存储的待调试程序文件进行调试。
[0043]优选的，在步骤101设置调试模式之前，所述方法还包括:
[0044]步骤111、设置待调试程序文件的下载地址空间映射至快闪记忆体，并链接完成待调试程序文件。
[0045]本步骤中，将下载到嵌入式系统中的待调试程序文件的下载地址空间设置为映射至嵌入式系统的快闪记忆体。
[0046]步骤121、发送调试模式更改请求。
[0047]本步骤中，向嵌入式系统发送模式更改请求，模式更改请求为将待调试程序文件的下载地址空间修改为映射至随机存取存储器。
[0048]步骤131、接收调试模式更改请求。
[0049]本步骤中，嵌入式系统接收调试模式更改请求。调试模式更改请求是将待调试程序文件的下载地址由映射至快闪记忆体改为映射至随机存取存储器。步骤101中设置调试模式是根据本步骤中的模式更改请求进行设置的。
[0050]本发明实施例一提供的嵌入式系统的调试方法通过将待调试程序文件的下载地址空间由映射至快闪记忆体改为映射至随机存取存储器，免除了擦写快闪记忆体的耗时，提高了待调试程序文件下载至嵌入式系统中的速度，并且由于免除了擦写快闪记忆体，提高了快闪记忆体的寿命，进而提高了嵌入式系统的寿命。
[0051]实施例二:
[0052]图2是本发明实施例二提供的嵌入式系统的调试系统的结构图。如图2所示，该调试系统包括依次连接的控制主机201、调试电路202和嵌入式系统203。控制主机201通过调试电路202向嵌入式系统203发送控制指令及待调试程序文件。嵌入式系统203接收到控制主机201发送的控制指令后执行控制指令。
[0053]本实施例中，控制主机向嵌入式系统发送的控制指令包括调试模式更改请求和调试指令。
[0054]如图2所示，嵌入式系统203包括:
[0055]总线213。
[0056]调试接口 223，与总线213连接，用于接收控制主机201发送的控制指令和待调试程序文件。
[0057]调试模式寄存器233，与总线213连接，用于根据调试接口 223接收的控制指令调试模式更改请求设置调试模式的值。
[0058]本实施例中，调试模式有两个值，其中一个值对应于待调试程序文件的下载地址空间映射至快闪记忆体，另一个值对应于待调试程序文件的下载地址空间映射至随机存取存储器。当调试模式寄存器的值设置为待调试程序文件的下载地址空间映射至随机存取存储器的调试模式后，只会被冷启动复位，复位为待调试程序文件的下载地址空间映射至快闪记忆体。
[0059]调试模式控制模块243，与总线213连接，并通过相应的选择性连接部件连接快闪记忆体253或随机存取存储器263，用于根据调试模式寄存器233设置的调试模式的值选择连接快闪记忆体253或随机存取存储器263。
[0060]控制器273，与总线213连接，用于根据调试接口 223接收的调试指令，对存储在快闪记忆体253或随机存取存储器263中的待调试程序文件进行调试。
[0061]本发明实施例二提供的嵌入式系统的调试系统通过在对待调试程序文件进行调试时，将待调试程序文件的下载地址空间由映射至快闪记忆体改为映射至随机存取存储器，免除了擦写快闪记忆体的耗时，提高了待调试程序文件下载至嵌入式系统中的速度，并且由于免除了擦写快闪记忆体，提高了快闪记忆体的寿命，进而提高了嵌入式系统的寿命。
[0062]上述仅为本发明的较佳实施例及所运用的技术原理。本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行的各种明显变化、重新调整及替代均不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由权利要求的范围决定。
【权利要求】
1.一种嵌入式系统的调试方法，其特征在于，包括: 设置调试模式； 根据所述调试模式将待调试程序文件的下载地址空间由映射至快闪记忆体改为映射至随机存取存储器； 接收所述待调试程序文件，并将所述待调试程序文件存储至所述随机存取存储器中； 接收调试指令，并运行所述调试指令，对所述待调试程序文件进行调试。
2.根据权利要求1所述的嵌入式系统的调试方法，其特征在于，所述设置调试模式之前还包括: 发送调试模式更改请求； 接收所述调试模式更改请求， 所述设置调试模式具体为: 根据所述调试模式更改请求设置调试模式。
3.根据权利要求2所述的嵌入式系统的调试方法，其特征在于，所述发送调试模式更改请求之前还包括: 设置所述待调试程序文件的下载地址空间映射至快闪记忆体，并链接完成所述待调试程序文件。
4.一种嵌入式系统的调试系统，其特征在于，包括:控制主机、调试电路和嵌入式系统， 所述控制主机通过所述调试电路与所述嵌入式系统连接； 所述控制主机通过所述调试电路向所述嵌入式系统发送控制指令及待调试程序文件； 所述嵌入式系统用于接收所述控制指令，并执行所述控制指令。
5.根据权利要求4所述的嵌入式系统的调试系统，所述控制指令包括调试模式更改请求和调试指令，其特征在于，所述嵌入式系统包括:总线、调试接口、调试模式寄存器、调试模式控制模块、快闪记忆体、随机存取存储器和控制器， 所述调试接口、所述调试模式寄存器、所述调试模式控制模块和所述控制器分别与所述总线连接，所述调试模式控制模块通过相应的选择性连接部件连接所述快闪记忆体或所述随机存取存储器； 所述调试接口用于接收所述控制指令和所述待调试程序文件； 所述调试模式寄存器用于根据所述调试模式更改请求设置调试模式的值； 所述调试模式控制模块用于根据所述调试模式的值选择连接所述快闪记忆体或所述随机存取存储器； 所述控制器用于运行所述调试指令，对所述待调试程序文件进行调试。
6.根据权利要求5所述的嵌入式系统的调试系统，其特征在于，所述调试模式寄存器设置为所述待调试程序文件的下载地址空间映射至随机存取存储器的调试模式后，只会被冷启动复位，所述复位为所述待调试程序文件的下载地址空间映射至快闪记忆体。
【文档编号】G06F11/36GK104503905SQ201410776567
【公开日】2015年4月8日 申请日期:2014年12月15日 优先权日:2014年12月15日
【发明者】高海洋, 王景华 申请人:北京兆易创新科技股份有限公司