技术编号：6651227
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明有关一种判断失效率(failure)与选择最佳预处理周期(burn-intime)的方法，特别是有关一种可以提供误差范围与风险估计的数值近似计算方法。随着市场竞争的日益激烈与集成电路电路产品的日渐复杂，集成电路电路产品的质量与可靠度(reliability)越来越重要。如何控管所生产的集成电路的质量、如何评估客户使用集成电路时的产品失效风险、以及如何平衡生产产本与质量保证二者的需求，是集成电路制造商的质管部门所面临的重大挑战。一般而言，集成电路的失效...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。