技术编号:6737676
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及SoC芯片中嵌入式SRAM的测试结构。 背景技术目前公知的嵌入式SRAM的测试大多采用内建自测试方法,这种方法可以实现存储器故障的检测,但是现有的方法并不能有效的解决嵌入式SRAM的测试复用问题。由于没有一个规范统一的测试结构,不同的SoC设计者对SRAM内建自测试的具体结构各有不同, 系统的设计效率受到很大的影响。发明内容本实用新型针对现有技术的不足,在充分研究IEEE 1500标准与内建自测试 (BIST)的基础上,提出一种可进行测试复用...
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