技术编号:6738192
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种内存IC检测分类机,尤其是涉及通过优化测试流程,缩短各动作机构的运行时间,改善整机工作状况,提高了整机工作效率的内存IC检测分类机。背景技术目前,半导体IC大致分为逻辑IC,内存IC,模拟IC和微组件IC,盛放半导体IC的载体主要有管装,载带装和托盘装,本实用新型是针对JEDEC托盘装内存IC提出的一种检测分类机。传统的内存IC检测分类机,工作流程是,取放臂从载体中取出IC放置到内存IC 测试模组中,待内存IC测试系统完成测试后,再由取放...
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