专利名称：测试程序优化的内存ic检测分类机的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种内存IC检测分类机，尤其是涉及通过优化测试流程，缩短各动作机构的运行时间，改善整机工作状况，提高了整机工作效率的内存IC检测分类机。
背景技术：
目前，半导体IC大致分为逻辑IC，内存IC，模拟IC和微组件IC，盛放半导体IC的载体主要有管装，载带装和托盘装，本实用新型是针对JEDEC托盘装内存IC提出的一种检测分类机。传统的内存IC检测分类机，工作流程是，取放臂从载体中取出IC放置到内存IC 测试模组中，待内存IC测试系统完成测试后，再由取放臂将IC从内存IC测试模组中取出分类放置于不同级载体中，由于内存IC测试系统测试速度慢，且内存IC测试系统测试时， 各动作机构需要等待，从而导致效率低下。
实用新型内容本实用新型的目的是提供一种结构简单、测试效率高的内存IC检测分类机。为了达到上述要求，本实用新型的技术方案是它包含至少一个JEDEC托盘装上料传送模组，上料机械手，第一缓冲和预定位模组，抓取机械手，内存IC测试模组，第二缓冲和预定位模组，下料机械手，至少一个JEDEC托盘装下料传送模组，和与内存IC测试模组相连的内存IC测试系统，其中，内存IC测试模组是由多个IC测试模块阵列而形成，且按照包含相同数量IC测试模块的区域划分成多个相同的区域，内存测试系统通过电信号切换与这些相同区域的IC测试模块相连接。所述的第一缓冲和预定位模组、第二缓冲和预定位模组分别位于内存IC测试模组之前与之后，分别与上料传送模组和下料传送模组相衔接，并且，第一缓冲和预定位模组、第二缓冲和预定位模组可沿直线移动，且直线上分布着多个点位分别对应于不同划分区域。上料机械手、下料机械手和抓取机械手的端部均安装有真空吸嘴，沿水平方向和竖直方向的移动轴移动对所划分成多个相同区域内的内存IC进行取放和测试。本实用新型提供的内存IC检测分类机，通过优化测试流程，将内存IC测试模组划分为多个相同区域，然后对不同区域进行操作，内存IC测试系统通过电信号切换与不同区域内内存IC测试模块连接，优化测试流程，这样不仅降低存IC测试系统的成本，而且各动作机构如图6所示，本实用新型的内存IC检测分类机的第一缓冲和预定位模组2和第二缓冲和预定位模组6，是由一水平移动轴10和一预定位板11组成，预定位板11上有导向定位用的斜坡定位槽12，内存IC 13放置于斜坡定位槽时，借助于自重，沿斜坡下滑，落入斜坡定位槽12中，从而实现内存IC13的定位。如图7所示，本实用新型的内存IC检测分类机的JEDEC托盘装上料传送模组1和 JEDEC托盘装下料传送模组8，是由两个顶升装置14、两个料匣15和一水平传送轴16组成，料匣15内可盛放多个JEDEC托盘17。顶升装置14通过偏心轮带动顶升杆升起或下降，而实现将JEDEC托盘17从料匣15中取出并放置到水平传送轴16上，水平传送轴16移动带动JEDEC托盘17 —起移动。[0010]如图8、9、10所示，上料机械手2，下料机械手7和抓取机械手4，均是在端部安装有真空吸嘴18的移动轴19，可沿水平方向和竖直方向移动。[0011]如上所述的内存IC检测分类机，工作流程如下[0012]1)，JEDEC托盘装上料传送模组的顶升装置和水平传送轴将盛放待检测内存IC的 JEDEC托盘送到设定位置，上料机械手从JEDEC托盘中吸取一定数量的待检测内存IC，并移动送至第一缓冲和预定位模组的预定位板的定位槽，重复执行，直到所有定位槽中都放有待检测内存IC;[0013]2)，第一缓冲和预定位模组的水平移动轴移动至第一上料位点，抓取机械手从定位槽中一次性吸取全部待检测内存IC，并移动送至第一区域第一列位置内存IC测试模块的放置槽中，内存IC测试系统开如测试；[0014]3)，重复1)和幻直到第一区域所有内存IC测试模块中都放有待检测内存IC;[0015]4)，重复1)，第一缓冲和预定位模组的水平移动轴移动至第二上料位点，抓取机械手从定位槽中一次性吸取全部待检测内存IC，并移动送至第二区域第一列位置内存IC测试模块的放置槽中，内存IC测试系统开如测试；[0016]5)，重复1)和4)直到第二区域所有内存测试模块中都放有待检测内存IC ；[0017]6)，与此同时，当第一区域内第一列位置内存IC测试模块中待检测内存IC测试完成后，第二缓冲和预定位模线的水平移动轴移动至第一下料位点，抓取机械手从第一区域第一列位置内存IC测试模块的放置槽中一次性吸取全部检测过的内存IC，并移动送至第二缓冲和预定位模组的预定位板的定位槽中；[0018]停留时间也会减短，从而使整机效率大大提高。
[0019]图1是本实用新型的内存IC检测机的主视图；[0020]图2是图1的俯视图；[0021]图3是图1的左视图；[0022]图4是本实用新型的内存IC检测机的立体图；[0023]图5是本实用新型的内存IC检测机的内存IC测试模组示意图；[0024]图6是本实用新型的内存IC检测机的第一缓冲和预定位模组示意图；[0025]图7是本实用新型的内存IC检测机的JEDEC托盘装上料传送模组和JEDEC托盘装上料传送模组示意图；[0026]图8是本实用新型的内存IC检测机的上料机械手示意图；[0027]图9是本实用新型的内存IC检测机的下料机械手示意图；[0028]图10是本实用新型的内存IC检测机的抓取机械手示意图。[0029]图中1、JEDEC托盘装上料传送模组；2、上料机械手；3、第一缓冲和预定位模组； 4、抓取机械手；5、内存IC测试模组；6、第二缓冲和预定位模组；7、下料机械手；8、JEDEC托盘装下料传送模组；9、内存IC测试模块；10、水平移动轴；11、预定位板；12、斜坡定位槽；13、内存IC;14、顶升装置；15、料匣；16、水平传送轴；17、JEDEC托盘；18、真空吸嘴；19、移动轴。
具体实施方式
以下结合附图和实施例对本实用新型做进一步说明。图1至图4是本实用新型的内存IC检测分类机的结构示意图，从图中看出，它包含至少一个JEDEC托盘装上料传送模组1，上料机械手2，第一缓冲和预定位模组3，抓取机械手4，内存IC测试模组5，第二缓冲和预定位模组6，下料机械手7，至少一个JEDEC托盘装下料传送模组8，和与内存IC测试模组5相连的内存IC测试系统。如图5所示，本实用新型的内存IC检测分类机的内存IC测试模组5，是由多个内存IC测试模块9阵列而形成，这些内存IC测试模块9可以按照包含相同数量内存IC测试模块划分成多个相同区域，内存IC测试系统通过电信号切换与这些相同区域内内存IC测试模块相连接。7)，JEDEC托盘装下料传送模组的顶升装置和水平传送轴将空的JEDEC托盘送到设定位置，同时，第二缓冲和预定位模组的水平移动轴移动到设定位置，依据测试结果进行分类，下料机械手从第二缓冲和预定位模组的预定位板的定位槽中优先吸取良品，并移动送至空的JEDEC托盘中，重复执行，直到所有定位槽中的检测过的内存IC全部取出；8)，重复6)和7)直到第一区域所有内存IC测试模块中的内存IC全部被取出分类放入空的JEDEC托盘中；9)，与此同时，第一区域内存IC测试模块开始上料；10)，与此同时，当第二区域内第一列位置内存IC测试模块中待检测内存IC测试完成后，第二缓冲和预定位模线的水平移动轴移动至第二下料位点，抓取机械手从第二区域第一列位置内存IC测试模块的放置槽中一次性吸取全部检测过的内存IC，并移动送至第二缓冲和预定位模组的预定位板的定位槽中；11)，第二缓冲和预定位模组的水平移动轴移动到设定位置，依据测试结果进行分类，下料机械手从第二缓冲和预定位模组的预定位板的定位槽中优先吸取良品，并移动送至空的JEDEC托盘中，重复执行，直到所有定位槽中的检测过的内存IC全部取出；12)，重复10)和11)直到第二区域所有内存IC测试模块中的内存IC全部被取出分类放入空的JEDEC托盘中。13)，重复上述所有步骤，本实用新型的内存IC检测分类机持续不断的工作，直至设备停机。如上所述的内存IC检测分类机，设置有第一、第二缓冲和预定位模组，并且各自还有两个上料位置，对应于内存IC测试模组划分成的不同区域，内存IC测试系统通过电信号切换与不同区域内内存IC测试模块相连接，这样通过区域切换，各动作机构、内存IC测试模组、内存IC测试系统之间可以相互协调工作，大大提高整机效率。本实施例中，内存IC 测试模组划分为两个区域，依据实际测试时间和整机效率需求，也可划分为更多区域，也可增加更多区域，目的只为提高整机效率，本实施例只是其中之一。
权利要求1.测试程序优化的内存IC检测分类机，其特征在于，它包含至少一个JEDEC托盘装上料传送模组，上料机械手，第一缓冲和预定位模组，抓取机械手，内存IC测试模组，第二缓冲和预定位模组，下料机械手，至少一个JEDEC托盘装下料传送模组，和与内存IC测试模组相连的内存IC测试系统，其中，内存IC测试模组是由多个IC测试模块阵列而形成，且按照包含相同数量IC测试模块的区域划分成多个相同的区域，内存测试系统通过电信号切换与这些相同区域的IC测试模块相连接。
2.根据权利要求1所述的测试程序优化的内存IC检测分类机，其特征在于第一缓冲和预定位模组、第二缓冲和预定位模组分别位于内存IC测试模组之前与之后，分别与上料传送模组和下料传送模组相衔接，并且，第一缓冲和预定位模组、第二缓冲和预定位模组可沿直线移动，且直线上分布着多个点位分别对应于不同划分区域。
3.根据权利要求1所述的测试程序优化的内存IC检测分类机，其特征在于上料机械手、下料机械手和抓取机械手的端部均安装有真空吸嘴，沿水平方向和竖直方向的移动轴移动对所划分成多个相同区域内的内存IC进行取放和测试。
专利摘要本实用新型公开了一种测试程序优化的内存IC检测分类机。旨在提供一种结构简单、测试效率高的内存IC检测分类机。它包含至少一个JEDEC托盘装上料传送模组，上料机械手，第一缓冲和预定位模组，抓取机械手，内存IC测试模组，第二缓冲和预定位模组，下料机械手，至少一个JEDEC托盘装下料传送模组，和与内存IC测试模组相连的内存IC测试系统，其中，内存IC测试模组是由多个IC测试模块阵列而形成，且按照包含相同数量IC测试模块的区域划分成多个相同的区域，内存测试系统通过电信号切换与这些相同区域的IC测试模块相连接。它不仅降低存IC测试系统的成本，而且各动作机构停留时间也会减短，提高了测试效率。
文档编号G11C29/56GK202332305SQ20112053366
公开日2012年7月11日 申请日期2011年12月1日 优先权日2011年12月1日
发明者岑刚, 朱玉萍 申请人:嘉兴景焱智能装备技术有限公司