技术编号：6746448
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种可读写半导体存贮器(以下称RAM)，还涉及一种对装在RAM的产品中的RAM进行测试的存贮器测试电路。为了测试DRAM等RAM，一般都采用存贮器测试电路。RAM的测试要考虑RAM具有的多个存贮单元所存贮的各位(这里为存贮单元)之间的相关关系和存贮电路中装有的译码器的工作。因此，在RAM的测试中，按特定的顺序接连不断地输入指定RAM具有的存贮单元的地址信号，指定各存贮单元，对各存贮单元进行测试。指定各存贮单元的地址的顺序模式(以下称测试模式)有许...
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