技术编号：6747052
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种适合于试验作为集成电路的存储器(半导体集成电路存储器，以下称为IC存储器)这样的半导体存储器的存储器试验装置，详细地说，涉及一种存储半导体存储器的试验结果的不良解析存储器。在图4中表示出了这种现有的存储器试验装置的基本构成。举例的存储器试验装置由定时发生器11、方式发生器12、波形整形器14、逻辑比较器16和不良解析存储器13构成。通过提供由定时发生器11所发生的基准时钟，方式发生器12发生提供给被试验IC存储器(以下简称为被试验存储器)15...
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